Einbrenn-Messbuchse GD18-TO263-7-x-109

für Transistor-OutlineKelvin

TO-Gehäuse-Testbuchse Für TO-263-7/D2-PAK Größe18x32.9mm / 0.71x1.30" Clamshell - Burn-in-Test - Kelvin-Kontakt (Option) - Nennstrom : 12A - Betriebstemperatur : [Annehmbares Gerät] AUIRFSA8409-7P (Infineon) C3M0075120J (CREE) STH300NH02L-6 (STMicroelectronics) SQM40016EM (Vishay) ** Einschließlich Temperaturanstieg der Klemmen. Es ist auch möglich, andere Anschlussmuster zu unterstützen. Bitte kontaktieren Sie uns für weitere Details. Nach der Durchführung einer Simulation werden wir entscheiden, welche Dimension und machen Ihnen einen Vorschlag. ・Das Leiterplattenmuster ist für die Anschlussmuster A, B und C üblich ・Die Durchgangslöcher GK,DK,SK sind für Kelvin-Kontakt. Wenn kein Kelvin-Kontakt erforderlich ist, sind diese Löcher nicht notwendig. Es können auch andere Gerätegrößen unterstützt werden. Bitte kontaktieren Sie uns für weitere Informationen. Obwohl das Gerät aufgelistet ist, kann es sein, dass es aufgrund der großen Toleranz der Geräteabmessungen nicht kompatibel ist. Bitte senden Sie uns daher vorab ein Muster des Geräts, damit wir die Kompatibilität prüfen können.