Einbrenn-Messbuchse GD18-TO263-7-x-109Kelvinfür Transistor-Outline
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Eigenschaften
- Merkmal
- Einbrenn, Kelvin, für Transistor-Outline
Beschreibung
TO-Gehäuse-Testbuchse
Für TO-263-7/D2-PAK
Größe18x32.9mm / 0.71x1.30"
Clamshell
- Burn-in-Test
- Kelvin-Kontakt (Option)
- Nennstrom : 12A
- Betriebstemperatur :
[Annehmbares Gerät]
AUIRFSA8409-7P (Infineon)
C3M0075120J (CREE)
STH300NH02L-6 (STMicroelectronics)
SQM40016EM (Vishay)
** Einschließlich Temperaturanstieg der Klemmen.
Es ist auch möglich, andere Anschlussmuster zu unterstützen. Bitte kontaktieren Sie uns für weitere Details.
Nach der Durchführung einer Simulation werden wir entscheiden, welche Dimension
und machen Ihnen einen Vorschlag.
・Das Leiterplattenmuster ist für die Anschlussmuster A, B und C üblich
・Die Durchgangslöcher GK,DK,SK sind für Kelvin-Kontakt. Wenn kein Kelvin-Kontakt erforderlich ist, sind diese Löcher nicht notwendig.
Es können auch andere Gerätegrößen unterstützt werden. Bitte kontaktieren Sie uns für weitere Informationen.
Obwohl das Gerät aufgelistet ist, kann es sein, dass es aufgrund der großen Toleranz der Geräteabmessungen nicht kompatibel ist.
Bitte senden Sie uns daher vorab ein Muster des Geräts, damit wir die Kompatibilität prüfen können.
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Power Transistor Socket SMT type
* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.