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... Hochpräzise Auflösung Systemauflösung: 0.2-0,8 μ m - Schnelle Erkennungsgeschwindigkeit Gemusterte Wafer: 15 Minuten/ Wafer, wenn die Anzahl der Defekte weniger als 200 beträgt ...
... Metrologiefunktionen
Patterned
Wafer: Rückstände, Risse, Kratzer, Partikel, Pad-Anomalien, Verfärbung, Kontamination, Ablösung, Sondenmarken, CD-Messung
Bump
Wafer: 2D-Bump-Größe, 3D-Bump-Höhe, Bump-Fehler, ...
TRI Test Research Europe GmbH
... Hochproduktive Inspektionssysteme für gemusterte Wafer mit breitem Bereich Die Inspektionssysteme für strukturierte Wafer der Serie 8 erkennen eine Vielzahl von Fehlertypen bei sehr hohem ...
KLA Corporation
... Beschreibung
- Automatisierte optische Inspektion (AOI) für IC-Substrate mit minimal auflösbarer Linie/Abstand bis 4 µm.
- Galaxy 4Cχ ist die neueste AOI-Generation von CIMS, ausgestattet mit Farbkamera und Prisma™ Gen II-Optik für
CIMS
... Pin Nozzle Filter Opto solino RTI sensor
100-SO-10-MAN-001 / AN_SO_PN_26-05
Kundenaufgabe: Nadel‑Düsen‑Filter sind präzise mikro‑perforierte Bauteile für Filtration, Fluidsteuerung und Dosierung. Hersteller ...
... Analyse von NG-Bildern, Speicherung von Analysedaten und Kommunikation mit dem Host-PC basierend auf Informationen des
Wafer-
Inspektionssystems.
Einsatz
Fehlerverwaltung im Herstellungsprozess von Halbleiterbauelementen ...
... Mit seiner einzigartigen optischen Designtechnologie erkennt und klassifiziert das Imperia-System ertragsmindernde Fehler mit dem zusätzlichen Vorteil einer gleichzeitigen hochmodernen Photolumineszenz (PL)-Produktionsüberwachung Produktübersicht Mit ...
Onto Innovation Inc.
... Das GWI System wurde entwickelt speziell um Fehler auf Wafern in einem frühen Stadium der Produktion zu erkennen. Das System basiert auf einer hochauflösenden smart Kamera um die geforderte Genauigkeit in der Fehlererkennung zu erreichen. Die komplette ...
... Hochgeschwindigkeits- Wafer- Inspektionssystem wurde speziell für die End-of-Line-Qualitätsprüfung nach den Schneide- und Reinigungsprozessen in der Waferfertigung entwickelt und dient als abschließende Qualitätskontrolle ...
... Das optische Inspektionssystem MicroProf DI von FRT ermöglicht die Inspektion von strukturierten und unstrukturierten Wafern während des gesamten Fertigungsprozesses. Durch die Kombination von 2D-Inspektion und Metrologie bietet das MicroProf ...
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