Erreichen Sie das ganze Jahr über neue Kunden an einem einzigen Ort
Aussteller werden
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... Hochproduktive Inspektionssysteme für gemusterte Wafer mit breitem Bereich Die Inspektionssysteme für strukturierte Wafer der Serie 8 erkennen eine Vielzahl von Fehlertypen bei sehr hohem Durchsatz und ermöglichen eine ...
KLA Corporation
... Das eSL10™ Elektronenstrahl-Prüfsystem für strukturierte Wafer nutzt die branchenweit höchste Landeenergie und hohe Auflösung, um kleine physikalische Defekte und Defekte mit hohem Aspektverhältnis zu erfassen und so die Prozessentwicklung und Produktionsüberwachung ...
KLA Corporation
... und 193nm-gemusterter Netzhäute in Maskenwerkstätten durch die Erkennung kritischer Muster- und Partikelfehler. Diese Inspektionssysteme arbeiten im Die-to-Die- oder im Die-to-Die-Modus und sind für eine Vielzahl von Stapelmaterialien, ...
KLA Corporation
... Das Teron™ SL670e XP2- Inspektionssystem wird zur Bewertung der Qualität eingehender EUV-Netzteile und zur regelmäßigen Requalifizierung von EUV-Netzteilen während der Produktion und nach der Netzteilreinigung eingesetzt. Es hilft Chipherstellern, ...
KLA Corporation
... Das FlashScan® 211 System zur Inspektion von Maskenrohlingen unterstützt Maskenshops und Hersteller von Rohlingen bei der Erfüllung der Anforderungen an Maskenrohlinge für optische und EUV-Lithografieanwendungen. Das FlashScan 211-System verbindet seine ...
KLA Corporation
... Das Kronos™ 1190XR Inspektionssystem für strukturierte Wafer mit hochauflösender Optik bietet eine erstklassige Empfindlichkeit für kritische Defekte bei der Prozessentwicklung und Produktionsüberwachung in Advanced Wafer Level Packaging ...
KLA Corporation
... CIRCL™-AP ist ein Cluster-Tool mit mehreren Modulen, die eine vollflächige Inspektion, Metrologie und Überprüfung mit hohem Durchsatz für eine effiziente Prozesskontrolle beim Advanced Wafer-Level Packaging (AWLP) abdecken. Das CIRCL-AP-Tool wird für ...
KLA Corporation
... Gepackte IC-Inspektions- und Messsysteme Der ICOS™ T890 Komponenteninspektor bietet eine leistungsstarke, vollautomatische optische Inspektion von gehäusten integrierten Schaltkreisen (IC). Es nutzt die hohe Empfindlichkeit bei 2D- und 3D-Messungen zur ...
KLA Corporation
Erreichen Sie das ganze Jahr über neue Kunden an einem einzigen Ort
Aussteller werden