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... Industriestandard für die Inline-Überwachung verbinden der 2965 und der 2950 EP die Empfindlichkeit mit der Geschwindigkeit der optischen Wafer-Fehlerprüfung und ermöglichen so Discovery at the Speed of Light™ - die Kombination ...
KLA Corporation
... als 20K Ohm/cm Über das halbautomatische Metrologiesystem Das Proforma 300iSA ist ein halbautomatisches Benchtop-/Desktop-Wafer-Messsystem für halbleitende und halbisolierende Materialien. Basierend auf der exklusiven ...
... I/O-Zahl: IC-Treiber, RF-Transceiver, drahtlose Verbindungen und MEMS. Produktübersicht Die Plattform, die entweder für Wafer- (rund) oder Panel- (rechteckig) Substrate konfigurierbar ist, bietet mehrere Belichtungsmodi, ...
Onto Innovation Inc.
Auflichmikroskop zur Waferinspektion • Hartgesteinstativ in Portalbauweise • Auflichttubus mit Objektivrevolver • Vakuum-Waferchuck
... ungemusterte Wafer Während des Grob- und Feinschleifprozesses zum Ausdünnen des Wafers werden die Werte der Oberflächenrauhigkeit Sa und ihre Stabilität zur Bewertung der Bearbeitungsqualität herangezogen. Wenn der gedünnte ...
... Ball AOI / Bump AOI Produktpräsentation Partikelprüfgeräte der Serie MRD-3100 für COG-, FOG- und COF-Produkte, insbesondere für die Erkennung von Bindungsfehlern bei LCD-Anzeigemodulen. Führend in der Industrie, erreicht das technische ...
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