Rasterelektronenmikroskop JSM-7900F

für AnalyseMesstechnikhochauflösend

Das JSM-7900F ist JEOLs neues Flaggschiff unter den FE-SEMs, das extrem hochauflösende Bildgebung, verbesserte Stabilität und außergewöhnliche Benutzerfreundlichkeit für alle Anwender in einer Mehrzweckumgebung vereint. Neo Engine（New Electron Optical Engine） Die neu entwickelte Funktion "Neo Engine" (New Electron Optical Engine), die das Objektivsteuerungssystem und die automatische Technologie integriert, ist ein Standardmerkmal. Auch wenn die optischen Bedingungen für die Elektronen verändert werden, ändert sich die Ausrichtung des Strahls nur unwesentlich, was eine schnelle und einfache Bildaufnahme bei jeder Beschleunigungsspannung und jedem Sondenstrom ermöglicht. Das System ist das beste Beispiel für die fortschrittliche Elektronenoptik-Technologie von JEOL. Verbesserung der Automatisierungsfunktion Präparat: Querschnitt eines Minerals (in Harz eingebettet), gefräst mit CP, Acc. Vol.: 5kV, Detektor: RBED, Vergrößerung: ×100,000 Verbesserung der Vergrößerungsgenauigkeit Prüfkörper: Probe für Metrologie (MRS5), Acc. Vol.: 10kV, Vergrößerung: ×50,000 Verbesserte Nutzbarkeit des Energiefiltermodus Probe: Namenskarte, Acc. Vol.: 15kV, Detektor, UED, Vergrößerung: ×3,500 GBSH-S (GENTLEBEAM™ Super High resolution Stage bias mode) GBSH ist eine Methode, die die räumliche Auflösung bei jeder Beschleunigungsspannung verbessert. Die neu entwickelte GBSH-S ermöglicht eine maximale Vorspannung von 5 kV für den Probentisch. die Funktion ※GENTLEBEAM™ bremst den beleuchteten Elektronenstrahl und das beschleunigte Elektronensignal unter Verwendung einer Vorspannung für die Probe. Neuer Detektor für rückgestreute Elektronen Der neu entwickelte, hochempfindliche Detektor für rückgestreute Elektronen liefert uns ein klares Kontrastbild. Die Empfindlichkeit des Detektors wurde stark verbessert, so dass bei niedriger Beschleunigungsspannung ein Bild mit hohem Kompositionskontrast beobachtet werden kann.