Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop JSM-F100

für Analysehochauflösendfür Halbleiter

JSM-F100 Schottky-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop Das JSM-F100 verfügt nicht nur über unsere hochgeschätzte In-lens Schottky Plus Feldemissions-Elektronenkanone und "Neo Engine" (elektronenoptisches Kontrollsystem), sondern auch über ein neues GUI "SEM Center" und einen innovativen "LIVE-AI (Live Image Visual Enhancer - Artificial Intelligence) Filter". Dies ermöglicht eine optimale Kombination aus hochauflösender Bildgebung und hoher Bedienbarkeit. Darüber hinaus ist das JSM-F100 mit einem energiedispersiven Röntgenspektrometer (EDS) von JEOL ausgestattet, das vollständig in "SEM Center" integriert ist und eine nahtlose Erfassung von Bildern bis hin zu den Ergebnissen der Elementaranalyse ermöglicht. Inspiriert von den Anwendern bei der Weiterentwicklung und Integration von hoher Leistung und Bedienbarkeit, erreicht das JSM-F100 eine hervorragende Arbeitseffizienz, die 50 % oder mehr über der unserer vorherigen JSM-7000-Serie liegt, was zu einer drastischen Steigerung des hohen Durchsatzes führt. Neue Funktion des "SEM Center" zur Integration von EDS Die neu entwickelte Benutzeroberfläche "SEM Center" integriert die REM-Bildgebung und die EDS-Analyse vollständig. Diese leistungsstarke Funktion bietet Bedienbarkeit der nächsten Generation und hochauflösende Bilder aus dem FE-SEM. Neue "Zeromag"-Funktion die Funktion "Zeromag", die einen nahtlosen Übergang von der optischen zur REM-Bildgebung ermöglicht, macht es einfach, den Zielbereich der Probe zu lokalisieren. Neuer LIVE-AI-Filter *Option Der LIVE-AI-Filter nutzt die Fähigkeit der künstlichen Intelligenz (KI), um eine höhere Qualität der Live-Bilder zu erzielen. Im Gegensatz zur Bildintegrationsverarbeitung kann dieser neue Filter ein nahtlos bewegtes Live-Bild ohne Restbild anzeigen. Diese einzigartige Funktion ist sehr effektiv für die schnelle Suche von Beobachtungsbereichen, die Fokussierung und die Stigmatoreinstellung.