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Jeol Mikroskope für Analyse
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... bedienbar ist. Optimierter Durchsatz Vom Einbau der Probe in das Mikroskop, über das Screenen und Abbilden bis hin zum Lagern und finalen Ausbau werden kryogene Proben einige Male im Mikroskop bewegt. ...
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Räumliche Auflösung: 0,08 nm - 0,23 nm
Das JEOL "NEOARM" / JEM-ARM200F zeichnet sich durch eine kalte Feldemissionsquelle (Cold FEG) und einen Cs-Korrektor (ASCOR), der Aberrationen höherer Ordnungen kompensiert, aus. Diese Kombination aus Cold FEG und ASCOR ermöglicht gleichermaßen ...
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Räumliche Auflösung: 0,19, 0,23 nm
Das JEM-F200 ist ein vielseitiges analytisches Elektronenmikroskop der neuesten Generation. Das Gerät wurde mit dem Ziel konzipiert, ein möglichst breites Anwendungsfeld abzudecken. Neben der speziell entwickelten, anwenderfreundlichen ...
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Vergrößerung: 2.000 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,1 nm - 0,31 nm
... über den chemischen Zustand oder die Elemente einer Probe. Auch die Spektroskopie für die Elementaranalyse und die chemische Analyse von Proben ist verfügbar. - Energiefilter in der Säule (Omega-Filter) Mit dem In-Column-Energiefilter ...
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Vergrößerung: 10 unit - 1.500.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,2, 0,14 nm
Die JEOL JEM-1400 Serie von 120 kV Transmissionselektronenmikroskopen wird in vielen Bereichen wie bspw. der Biologie, Nanotechnologie und Polymerforschung eingesetzt. Um die Bedienerfreundlichkeit weiter zu verbessern und es zu ermöglichen, ...
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Vergrößerung: 3.500 unit - 100.000 unit
... Das JSM-7900F ist JEOLs neues Flaggschiff unter den FE-SEMs, das extrem hochauflösende Bildgebung, verbesserte Stabilität und außergewöhnliche Benutzerfreundlichkeit für alle Anwender in einer Mehrzweckumgebung vereint. Neo Engine(New ...
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Vergrößerung: 10 unit - 2.740.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 1,3 nm
... Center" zur Integration von EDS Die neu entwickelte Benutzeroberfläche "SEM Center" integriert die REM-Bildgebung und die EDS-Analyse vollständig. Diese leistungsstarke Funktion bietet Bedienbarkeit der nächsten Generation ...
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Vergrößerung: 25 unit - 1.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 1, 1,3, 3 nm
... Halblinsenobjektiv verfügt. Die Hochleistungsoptik ermöglicht einen hohen Durchsatz und eine hohe Leistungsfähigkeit der Analyse. Es ist auch für Analysen mit hoher räumlicher Auflösung geeignet. Darüber hinaus kann ...
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... Berichten über Beobachtungs- und/oder Analyseergebnisse usw. ermöglichen eine schnelle Analyse mit integriertem Übergang vom OM zum SEM. Schnelle Beobachtung, Analyse und Berichterstellung! JEOL InTouchScope™ ...
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JEOL JCM-7000 Tabletop-Rasterelektronenmikroskop Noch nie war der Einstieg in die Welt der Elektronenmikroskopie so einfach: Das Desktop-REM JCM-7000 verknüpft einfachste Probennavigation mit einer Vielzahl fortschrittlicher Autofunktionen. ...
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