- Metrologie - Labor >
- Laborbedarf >
- Mikroskop für Analyse >
- ZEISS
ZEISS Mikroskope für Analyse
Erreichen Sie das ganze Jahr über neue Kunden an einem einzigen Ort
Aussteller werden{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... effizienten Arbeitsablauf.Eingebauter Computer ermöglicht die Ausführung aller Funktionen und Software-Apps direkt auf dem Mikroskop. Flexibles und großes Sichtfeld (FOV) mit 25-fachem Zoom und 370 mm Arbeitstiefe für die Inspektion eines ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... High-End-Nanoanalyse. Sigma 360 ist die erste Wahl für zentrale Einrichtungen – ein intuitives FE-SEM für das Imaging und die Analyse. Sigma 560 bietet mit der optimal abgestimmten EDX-Geometrie Analysen mit hohem Durchsatz ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Vergrößerung: 20 unit
Länge: 304 mm
Breite: 210 mm
... Mikroskop für routinemäßige Materialografie und smarte Dokumentation So einfach war die digitale Dokumentation noch nie. ZEISS Axiolab 5 ist die richtige Entscheidung, wenn Sie bei Ihren routinemäßigen Materialografie-Anwendungen hohe ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... Ihr integriertes Weitfeld-Konfokalmikroskop für die Oberflächenanalyse in der Qualitätssicherung und -kontrolle Das vielseitige konfokale Weitfeldmikroskop ZEISS Smartproof 5 ist Ihr integriertes System für die Oberflächenanalyse: schnell, präzise und ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... im Auf- und Durchlicht nutzen. Mit Axiovert 5 können Sie Bilder ganz ohne PC ansehen und dokumentieren: Verbinden Sie das Mikroskop einfach mit einem Monitor und speichern Sie Daten direkt auf einem USB-Speicher. Mit den zusätzlichen ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Profitieren Sie von ZEISS Versa Röntgenmikroskopen, der weltweit bewährten Wahl für Wissenschaft und Forschung. Durch die intuitive Benutzeroberfläche der Versa XRMs können alle Anwender ihre Produktivität maximieren und herausragende Ergebnisse erzielen. ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... ZEISS Xradia Context ist ein anwenderfreundliches 3D-Mikro-Computertomographie-System (microCT) für die Analyse aller Probenarten. Ein hochformatiger Detektor ermöglicht die hohe Auflösung feiner Details auch bei relativ großen Imaging-Volumen. ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Erreichen Sie das ganze Jahr über neue Kunden an einem einzigen Ort
Aussteller werdenAbonnieren Sie unseren Newsletter
Erhalten Sie alle zwei Wochen Neuigkeiten aus dieser Rubrik.
Bitte lesen Sie unsere Datenschutzbestimmungen, um zu erfahren, wie DirectIndustry mit Ihren personenbezogenen Daten umgeht.
- Liste der Marken
- Herstellerkonto
- Käuferkonto
- Unsere Dienstleistungen
- Newsletter abonnieren
- Über die VirtualExpo Group