Automatisches Probenvorbereitungssystem EM-09100IS Ion Slicer™
für SEM

automatisches Probenvorbereitungssystem
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Eigenschaften

Verwendungsmodus
automatisch
Anwendung
für SEM

Beschreibung

JEOL EM-09100IS Ion Slicer Der Ion Slicer EM-09100IS ist ein innovatives Produkt zur Probenpräparation für TEM und STEM, aber auch für REM und Auger. Das System erlaubt die schnelle und einfache Präparation von (S)TEM-Proben auch heterogener Materialien mittels Ar-Ionenstrahl. An die Probenvorbereitung werden dabei nur geringe Anforderungen gestellt. Es ist kein disc grinding oder dimple grinding notwendig. Der Ion Slicer präpariert Dünnschichtproben damit schneller und einfacher als konventionelle Präparationssysteme. Die Proben werden mit einem niederenergetischen Ar-Ionenstrahl unter flachem Winkel beschossen. Ein dünnes, bewegliches Abschirmband schützt die Probe und lässt die Bestrahlung nur unter einem sehr flachen Winkel zu. Damit wird die Ionenstrahlschädigung der Probe deutlich reduziert. Das Ergebnis ist ein dünner Film hoher Qualität mit sehr geringen Artefakten sogar in weichen Materialien. Der Ion Slicer kann sehr effektiv dünne Filme von Proben unterschiedlicher Zusammensetzung herstellen, auch von Proben mit porösen Anteilen. Merkmale • TEM-Probenpräparation hoher Qualität • Computergesteuerte Präparation mit CCD-Kameraüberwachung • Schnelle Präparation • Keine komplizierte Probenvorbereitung • Minimale Oberflächenschädigung

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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.