Jeol hochauflösende Mikroskope

Gewicht: 100 kg

Bereits das JEOL 300kV-Flagschiff-TEM JEM-ARM300F „GRAND ARM“ markierte Rekorde in Auflösung und EDX-Geschwindigkeit. Mit dem Nachfolgemodell GRAND ARM™ 2 wurde die Stabilität des Systems in zahlreichen Aspekten maximiert. So ermöglicht ...

Räumliche Auflösung: 0,19, 0,23 nm

Das JEM-F200 ist ein vielseitiges analytisches Elektronenmikroskop der neuesten Generation. Das Gerät wurde mit dem Ziel konzipiert, ein möglichst breites Anwendungsfeld abzudecken. Neben der speziell entwickelten, anwenderfreundlichen ...

Vergrößerung: 10 unit - 1.500.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,2, 0,14 nm

Die JEOL JEM-1400 Serie von 120 kV Transmissionselektronenmikroskopen wird in vielen Bereichen wie bspw. der Biologie, Nanotechnologie und Polymerforschung eingesetzt. Um die Bedienerfreundlichkeit weiter zu verbessern und es zu ermöglichen, ...

Vergrößerung: 3.500 unit - 100.000 unit

... Das JSM-7900F ist JEOLs neues Flaggschiff unter den FE-SEMs, das extrem hochauflösende Bildgebung, verbesserte Stabilität und außergewöhnliche Benutzerfreundlichkeit für alle Anwender in einer Mehrzweckumgebung vereint. Neo ...

Vergrößerung: 10 unit - 2.740.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 1,3 nm

... LIVE-AI (Live Image Visual Enhancer - Artificial Intelligence) Filter". Dies ermöglicht eine optimale Kombination aus hochauflösender Bildgebung und hoher Bedienbarkeit. Darüber hinaus ist das JSM-F100 mit einem energiedispersiven ...

... Ein und derselbe Probenhalter kann nun sowohl für das Lichtmikroskop als auch für das Rasterelektronenmikroskop verwendet werden. Durch die Verwaltung der Objekttischinformationen mit einer speziellen Software ist es dem System möglich, ...

Vergrößerung: 20 unit - 1.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 1,2, 4, 1,6 nm

JEOL JIB-4700F Mehrstrahl-System Fortschritte in den Materialwissenschaften und in den Life Sciences verlangen immer höhere Anforderungen an die bildgebenden, analytischen und präparativen Möglichkeiten moderner Focused-Ion-Beam-Systeme ...