Tescan Labormikroskope

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SEM-Mikroskop
SEM-Mikroskop
VEGA

Die 4. Generation des TESCAN VEGA Rasterelektronenmikroskops (REM) ist mit Wolfram-Filament-Elektronenquelle ausgestattet. Es kombiniert die REM-Bildgebung mit einer Live-Analyse der Zusammensetzung Ihrer Proben zeitgleich in einem einzigen ...

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SEM-Mikroskop
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MIRA

Hochauflösendes analytisches REM für routinemäßige Materialcharakterisierung, Forschung und Qualitätskontrolle im Submikrometerbereich Die 4. Generation des TESCAN MIRA Rasterelektronenmikroskops (REM) ist mit einer FEG Schottky Elektronenemissionsquelle ...

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SEM-Mikroskop
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TIMA

... TESCAN TIMA ist eine spezielle Lösung für automatisierte mineralogische Analysen in geowissenschaftlichen Studien und in der industriellen Mineralienverarbeitung. Die vierte Generation von TESCAN TIMA zeichnet sich durch eine verbesserte ...

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FIB/SEM-Mikroskop
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AMBER X

... Eine einzigartige Kombination von Plasma-FIB und feldfreiem UHR FE-SEM für die Multiskalen-Materialcharakterisierung - Hoher Durchsatz, großflächige FIB-Verarbeitung bis zu 1 mm - Ga-freie Mikroprobenpräparation - Ultrahochauflösende, ...

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FIB/SEM-Mikroskop
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AMBER

... Vielseitige nanoanalytische FIB-SEM zur Erweiterung Ihrer Materialforschungskapazitäten - Hochpräzise Mikroprobenpräparation - Ultrahochauflösende feldfreie SEM-Bildgebung und Nanoanalyse - Erweitertes Sichtfeld und einfache Navigation - ...

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FIB/SEM-Mikroskop
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SOLARIS

... Fortschrittliche Nanofabrikationswerkbank für Ihr Forschungslabor - Ausgezeichnete SEM-Bildgebung mit ultrahoher Auflösung - Beste Auflösung Ga FIB-Spalte - Hochpräziser Nanomusterungsmotor für Elektronen- und Ionenstrahlen - Mehrgas-Injektionssystem ...

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FIB/SEM-Mikroskop
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AMBER cryo

... Eine alternative Lösung zur Vorbereitung von Kryolamellen für Ihr TEM - Flexible Kryo-FIB-SEM-Arbeitsstation für Ihre anspruchsvollsten Anwendungen unter kryogenen Bedingungen - Optimierter Kryo-TEM-Lamellen-Workflow für artefaktfreie ...

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FIB/SEM-Mikroskop
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SOLARIS X

... Eine Plasma-FIB-SEM-Plattform für tiefe Schnitte und höchstauflösende Endpunkte für die Fehleranalyse auf Baugruppenebene - Vorhangfreie großflächige Querschnitte für die Analyse physikalischer Fehler bei fortschrittlichen Verpackungstechnologien - ...

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