Nikon Metrology Labormikroskope

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Polarisationsmikroskop
Polarisationsmikroskop
ECLIPSE LV100N POL

Gewicht: 17 kg
Länge: 490 mm
Breite: 251 mm

Die Polarisationsmikroskope der Serie ECLIPSE LV100N POL und Ci-POL dienen zur Untersuchung der doppelbrechenden Eigenschaften anisotroper Proben durch Beobachtung von Bildkontrast und Farbveränderungen. Nikon bietet Systeme sowohl für ...

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metallurgisches Mikroskop
metallurgisches Mikroskop
ECLIPSE MA200

Vergrößerung: 1 unit - 100 unit
Länge: 295 mm
Breite: 215 mm

Das Nikon ECLIPSE MA200 ist ein flexibles, modulares, inverses Mikroskop im innovativen Box-Design für episkopische optische Kontrastverfahren in Verbindung mit Zubehör für die digitale Bildverarbeitung. Es ist ideal für die Inspektion ...

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optisches Mikroskop
optisches Mikroskop
Eclipse Ci-POL

Vergrößerung: 5 unit - 100 unit
Gewicht: 14 kg
Länge: 271 mm

Die Polarisationsmikroskope der Serie ECLIPSE LV100N POL und Ci-POL dienen zur Untersuchung der doppelbrechenden Eigenschaften anisotroper Proben durch Beobachtung von Bildkontrast und Farbveränderungen. Nikon bietet Systeme sowohl für ...

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Nikon Metrology
optisches Mikroskop
optisches Mikroskop
Eclipse LV100ND

Gewicht: 9,5 kg
Länge: 362 mm
Breite: 251 mm

Die ECLIPSE LV100NDA und LV100ND Serie flexibler, modularer, aufrechter Mikroskope von Nikon ist für episkopische und diaskopische optische Kontrastverfahren konzipiert. Die Geräte können mit digitalem Kamerazubehör geliefert werden und ...

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Mikroskop für die Metallurgie
Mikroskop für die Metallurgie
Eclipse MA100N

Gewicht: 10 kg
Länge: 552 mm
Breite: 229 mm

Das ECLIPSE MA100N von Nikon ist ein erschwingliches, flexibles, kompaktes, modulares, inverses Mikroskop für episkopische optische Kontrastverfahren in Verbindung mit Kamerazubehör- für die digitale Bildverarbeitung. Es ist ideal für ...

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