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Carl Zeiss Labormikroskope
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Die Produktfamilie ZEISS Sigma verbindet die Technologie des Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops (FE-SEM) mit einer hervorragenden Benutzerfreundlichkeit. Sie können Ihre Bildgebungs- und Analyseroutinen strukturieren und Ihre Produktivität ...
ZEISS Métrologie industrielle
Räumliche Auflösung: 1,2, 0,7 nm
ZEISS GeminiSEM steht für müheloses Imaging mit Auflösungen im Subnanometerbereich. Diese FE-SEMS (Feldemissions-Rasterelektronenmikroskope) verbinden Kompetenz in Imaging und Analytik. Dank der Innovationen in der Elektronenoptik und ...
ZEISS Métrologie industrielle
Gewicht: 20, 14, 32 kg
Länge: 458,5, 240 mm
Breite: 429, 293,5 mm
Das aufrechte Lichtmikroskop ZEISS Axioscope wurde speziell für die gängigen Anforderungen an das optische Imaging im Materiallabor entwickelt. Es eignet sich besonders für Routineuntersuchungen mit hohem Anspruch an Bedienfreundlichkeit, ...
ZEISS Métrologie industrielle
Gewicht: 27, 36, 30 kg
Länge: 805 mm
Breite: 295 mm
Untersuchen, entwickeln und analysieren Sie Materialien, insbesondere metallografische Proben, in kürzester Zeit – mit ZEISS Axio Observer. Das System bietet Ihnen alle Vorteile der inversen Bauweise. Axio Observer vereint die Qualität ...
ZEISS Métrologie industrielle
Vergrößerung: 1 unit - 150 unit
Analysieren Sie kleinste MEMS-Sensoren oder ganze Flachbildschirme mit ZEISS Axio Imager Vario. Das Säulendesign macht es möglich, extrem große Proben bei gleichzeitig hoher Stabilität zu untersuchen. Darüber hinaus ist Axio Imager Vario ...
ZEISS Métrologie industrielle
Vergrößerung: 1 unit - 100 unit
Gewicht: 40, 18 kg
Länge: 721 mm
Erleichtern Sie Ihren Workflow für lichtmikroskopische Untersuchungen in der erweiterten Materialforschung. Und profitieren Sie von präzisen und reproduzierbaren Ergebnissen mit ZEISS Axio Imager 2. Dieses System wurde mit Blick auf die ...
ZEISS Métrologie industrielle
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