Optischer Imaging-Analyse-System JX

2D

Übersicht
Das metallographische Bildanalysesystem bietet quantitative Metallographie‑Arbeitsabläufe für Labor und industrielle Prüfungen. Von Werkstoffexperten entwickelt, führt die Software Echtzeit‑Bildverarbeitung, automatisierten Vergleich, Fehlererkennung, Bewertung, statistische Auswertung und die Erstellung illustrierter Berichte durch. Die Lösung integriert moderne Bildanalyse mit metallographischer Mikroskopie, liefert schnelle, normgerechte Ergebnisse und erlaubt die Anpassung an spezifische Werkstoffe und Bewertungsrichtlinien. Die Benutzeroberfläche ist chinesisch und für kurze Anwenderschulungen konzipiert.

Hauptfunktionen

• Bildaufnahme und -speicherung; Bildbearbeitung (Zuschneiden, Drehen, Beschriftungen)
• Bildverarbeitung: Verbesserung, Filterung, Überlagerung und Stitching
• Umfassende Messwerkzeuge: Umfang, Fläche, Prozentanteil und zahlreiche weitere Kennzahlen
• Korngrößenmessung und -bewertung mit Korngrenzenextraktion und -rekonstruktion (einphasig und zweiphasig)
• Erkennung und Bewertung nichtmetallischer Einschlüsse (Sulfide, Oxide, Silikate usw.)
• Messung und Bewertung von Perlit, Ferrit und Graphitsphäroidisierungsgrad
• Messung von entkohlten/aufgekohlten Schichten und Beschichtungsdicken
• Messung der Schweißdurchdringung und Schweißnahttiefe
• Phasenflächenmessung für ferritische und austenitische Edelstahltypen
• Integriertes metallographisches Atlas mit ca. 470 gebräuchlichen Materialbildern; neue Materialien und Bewertungsstandards anpassbar

Systemzusammensetzung

• Software (Lieferung auf CD)
• Hardware‑Schutz: USB‑Dongle
• 3‑Megapixel HD‑Digitalkamera
• 0,5× Adapter‑Objektivschnittstelle
• Bild‑Mikrometerskala, Teilung 0,01 mm

Hardware‑Betriebsumgebung
Windows 7 (32/64‑Bit). Microsoft Office 2007/2010 unterstützt.

Mindestanforderungen

• CPU: Intel Core 2 2,8 GHz oder höher
• Arbeitsspeicher: 2 GB oder mehr
• USB: USB 2.0 oder USB 3.0
• Display: 19 Zoll oder größer
• CD‑ROM‑Laufwerk

Technische Spezifikationen

• Quantitative metallographische Bildanalyse mit Echtzeit‑Vergleich, Inspektion, Bewertung, statistischer Auswertung und illustrierten Berichten
• Konform mit nationalen und internationalen Normen (GB, JB, YB, HB, QC, DL, DJ, ASTM etc.)
• Umfangreiche Messfunktionen: Umfang, Fläche, Prozentanteil und viele weitere Tools
• Automatisierte Korngrenzenextraktion und -rekonstruktion für genaue Korngrößenbewertung
• Einschluss‑Erkennung und -Bewertung für Sulfide, Oxide, Silikate
• Messung und Bewertung von Perlit, Ferrit und Graphitsphäroidisierung
• Funktionen zur Messung von entkohlten/aufgekohlten Schichten, Beschichtungsdicken und Schweißdurchdringung
• Phasenflächenunterstützung für ferritische und austenitische Edelstähle
• Integriertes Atlas: ~470 Materialmikrographien; anpassbare Datenbank für neue Materialien und Standards
• Lieferumfang: USB‑Dongle‑Schutz, Software‑CD und empfohlenes Kamera/Interface‑Set (3 MP Kamera, 0,5× Adapter, 0,01 mm Mikrometerskala)
• Mindest‑PC‑Anforderungen: Intel Core 2 2,8 GHz+, 2 GB RAM, USB 2.0/3.0, 19"+ Display, CD‑ROM