Flächenkamera NS-615A-GE

2DdigitalIndustrie

Beschreibung
Die NS-615A-GE ist eine SWIR-Flächenkamera mit einem InGaAs-Detektor sowie integrierter Bildkorrektur und Bildverarbeitungsalgorithmen. Sie liefert digitale Ausgaben über eine GigE-Schnittstelle, verfügt über einen Snapshot-Global-Shutter und einen niedrigen Energieverbrauch, geeignet für Halbleiterprüfung, Sortierung und industrielle Bildverarbeitungsaufgaben im kurzwelligen Infrarotbereich.

Hauptmerkmale

• Rauscharme digitale Ausgabe
• GigE-Schnittstelle für Bildübertragung
• Integrierte Bildkorrektur und Verarbeitungsalgorithmen
• Niedriger Energieverbrauch für einfache Integration

Spezifikationen (Tabelle)
Technische Parameter: NS-615A-GE

• Sensor: InGaAs
• Spektraler Ansprechbereich: 0,9 μm – 1,7 μm
• Quanteneffizienz: ≥70% (1,0–1,6 μm)
• Optischer Fill-Factor: 100%
• Pixelpitch: 15 μm
• Aktive Pixel: 640 × 512
• Pixel-Operabilität: ≥99,8%
• Max. Bildfrequenz (volles Array): 180 Hz
• Ausgangsdaten-Tiefe: 14 / 12 / 10 / 8 bit
• Belichtungsart: Snapshot-Global-Shutter
• Mindestintegrationszeit: 100 μs
• Dynamikumfang (typ.): 67 dB (HG)
• Optionaler Gain: 3
• Durchschnittlicher Dunkelstrom pro Pixel: ≤100 ke-/s @ 20℃
• Versorgungsspannung: Typ. 12 V
• Typischer Verbrauch: <2,5 W (TEC off)
• Schnittstelle: GigE
• Objektivanschluss: C-Mount
• Core-Gewicht: 150 ± 5 g
• Core-Abmessungen: 46 × 46 × 61 mm
• Betriebstemperatur: -40℃ bis +60℃
• Lagerungstemperatur: -40℃ bis +85℃
• Temperaturregelung: TEC1

Anwendungen

• Halbleiterinspektion
• Sortierung und Qualitätskontrolle
• Maschinenvision und industrielle Prüfaufgaben mit SWIR-Bildgebung

Technische Spezifikationen

• Modell: NS-615A-GE
• Sensortyp: InGaAs
• Spektrale Antwort: 0,9–1,7 μm
• Auflösung: 640 × 512
• Pixelpitch: 15 μm
• Schnittstelle: GigE
• Anschluss: C-Mount