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Tester für integrierte Schaltung TR5001E SII
für Diagnosefür die Elektronikanalog

Tester für integrierte Schaltung - TR5001E SII - TRI Test Research Europe GmbH - für Diagnose / für die Elektronik / analog
Tester für integrierte Schaltung - TR5001E SII - TRI Test Research Europe GmbH - für Diagnose / für die Elektronik / analog
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Eigenschaften

Getestetes Produkt
für integrierte Schaltung
Anwendung
für Diagnose, für die Elektronik
Weitere Eigenschaften
analog, maßgefertigt

Beschreibung

Einführung
Der TR5001E SII ist ein automatisierter In‑Circuit‑ und Funktionstester für die PCB‑Produktion. Er integriert MDA mit wählbaren ICT‑ und Funktionstest‑Optionen, um Bedienereingriffe zu reduzieren und hohe Durchsatzraten zu unterstützen. Die ICT‑Plattform verfügt über integrierte Auto‑Kalibrierung und Selbstdiagnose für langfristige Prüfzverlässigkeit.

Merkmale
  • Modularer Upgrade‑Pfad von MDA zu ICT und Funktionstest
  • Integrierte Selbstdiagnose und Auto‑Kalibrierung
  • Hohe Mess‑ und Testgeschwindigkeit bei hoher Genauigkeit
  • Intuitive Benutzeroberfläche für schnelle Programmentwicklung


Tester‑Spezifikationen
Analoge/hybride Testpunkte: TR5001E SII: 3456
TR5001E SII INLINE: 2496
Betriebssystem: Microsoft® Windows 11
Prüfvorrichtung: Inline oder Offline (Pressen‑Typ); Inline‑Option mit langlebiger Schnelltrennschnittstelle

Standard‑Testkomponenten
  • Analoge Testhardware:
    • 6‑Draht Mess‑Schaltmatrix
    • Programmierbare AC/DC/DC Hochspannungs‑ und Stromquellen
    • AC/DC Spannungs‑ und DC Strommessung
    • Bauteil‑R/L/C Messung


Optionale Komponenten
  • Analoge Hardware:
    • TestJet vektorlose Open‑Circuit‑Erkennung
    • Arbitrary Waveform Generator
  • Digitale Prüfung:
    • Nicht‑multiplexierte 1:1 pro‑Pin Architektur mit unabhängig einstellbarem Pegel pro Pin
    • DUT‑Stromversorgungen: 5 V@3 A, 3.3 V@3 A, 12 V@3 A, −12 V@1 A, 24 V@3 A
    • Programmierbare Versorgung (2 CH): 0.2–3 V@2 A max oder 3–24 V@3 A max
    • DPS programmierbare DUT‑Versorgungsoptionen:
      (1) DPS3514: 30 V max / 5 A max / 100 W max pro Kanal / 4 CH pro DPS
      (2) DPS3122: 30 V max / 10 A max / 200 W max pro Kanal / 2 CH pro DPS
      (3) APPS7508: 75 V max / 8 A max / 200 W max
    • Boundary Scan: BScan Chain/Cluster/Virtual Nails/Virtual Chain Tests, IEEE1149.6
    • On‑board Flash, EEPROM, MAC Programmierung
    • ToggleScan: kombinierte Testtechnologie mit BScan und vektorlosen Funktionen zur Erkennung von Open/Short an Pins
  • Yield Management System: YMS 4.0
  • Industry‑4.0 Standards: IPC‑Hermes‑9852, IPC‑CFX


Board Handling
Max. Leiterplattengröße:
TR5001E SII: Standard — 420 x 300 mm; Optional — 600 x 350 mm
TR5001E SII INLINE: Standard — 450 x 300 mm; Optional — 500 x 360 mm
Leiterplattenstärke: 0,6–5 mm


Abmessungen
BxTxH:
TR5001E SII: 1000 x 900 x 1680–1700 mm
TR5001E SII INLINE: 900 x 900 x 1640 mm
Hinweis: Signalturm nicht in den Abmessungen enthalten; Signalturm‑Höhe: 392 mm
Gewicht:
TR5001E SII: 200 kg
TR5001E SII INLINE: 480 kg

Standard‑Testkomponenten / Sonstiges
  • Beinhaltet MDA mit wählbaren ICT‑ und Funktionstestfunktionen
  • Integrierte Auto‑Kalibrierung und Selbstdiagnose
  • Hohe Mess‑ und Testgeschwindigkeit sowie Genauigkeit


Downloads / Mitgliederbereich
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Technische Daten
  • Modell: TR5001E SII
  • Analoge/hybride Testpunkte: 3456 (TR5001E SII); 2496 (TR5001E SII INLINE)
  • Betriebssystem: Microsoft Windows 11
  • Prüfvorrichtung: Inline oder Offline (Inline mit langlebiger Schnelltrennschnittstelle)
  • Standard analoge Testhardware: 6‑Draht Matrix; programmierbare AC/DC/DC Quellen; AC/DC Spannungs‑ und DC Strommessung; Bauteil R/L/C Messung
  • Optional: TestJet, Arbitrary Waveform Generator, DPS Module, Boundary Scan, On‑board Programmierung, ToggleScan
  • Yield Management: YMS 4.0
  • Standards: IPC‑Hermes‑9852, IPC‑CFX
  • Max. PCB Größen und Stärken sowie Abmessungen/Gewichte wie oben angegeben

Messen

Sie können diesen Hersteller auf den folgenden Messen antreffen

ELECTRONICA 2026
ELECTRONICA 2026

10-13 Nov. 2026 Munich (Deutschland) Halle A4 - Stand 638

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