Rasterkraftmikroskop NX-Mask
zur Reparatur von FotomaskenNanoskopautomatisch

Rasterkraftmikroskop
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Eigenschaften

Typ
Rasterkraft
Anwendungsbereich
zur Reparatur von Fotomasken
Beobachtungstechnik
Nanoskop
Weitere Eigenschaften
automatisch, Hochvakuum

Beschreibung

Park NX-Mask ist das effektivste, sicherste und effizienteste Fotomasken-Reparatursystem für hochwertige EUV-Maskenreparaturen. Es bietet eine All-in-One-Lösung - von der automatischen Fehlerprüfung bis hin zur Reparatur und Verifizierung - und beschleunigt den Durchsatz mit beispielloser Reparatureffizienz. Hauptmerkmale ✔ Kein Beschädigungsrisiko und nahtlose Reparatur aller Arten von Defekten ✔Kompatibel mit einem Dual-Pod für die Handhabung von EUV-Masken ✔All-in-One-Lösung für die Lokalisierung von Defekten und die Verifizierung nach der Reparatur

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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.