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Räumliche Auflösung: 20 nm
... Oberflächensensitive Mikroskopie 20 nm Laterale Auflösung Lokale Spektroskopie k-Space-Bildgebung Einfach zu bedienen Kompatibel mit MULTIPROBE UHV-Systemen Ein FOCUS-Produkt Die Photoemissions-Elektronenmikroskopie (PEEM) ist eine extrem ...
... Das invertierte Emissionsmikroskop ist ein Rückseiten-Analysesystem, das zur Identifizierung von Fehlerstellen durch Erkennung des von den Defekten in Halbleiterbauelementen emittierten Lichts und der Wärme dient. Die Signaldetektion ...
HAMAMATSU
... Das invertierte Emissionsmikroskop ist ein Rückseiten-Analysesystem, das zur Identifizierung von Fehlerstellen durch Erkennung des von den Defekten in Halbleiterbauelementen emittierten Lichts und der Wärme dient. Die Signaldetektion ...
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... Das PHEMOS-1000 ist ein hochauflösendes Emissionsmikroskop, das Fehlerstellen in Halbleiterbauelementen lokalisiert, indem es die schwachen Lichtemissionen und Wärmeemissionen erkennt, die von Halbleiterbauelementdefekten verursacht werden. ...
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