ONTO automatische Inspektionsmaschinen

1 Firma | 7 produkte
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
Inspektionsmaschine für Wafer
Inspektionsmaschine für Wafer
Firefly®

... Die Firefly-Prüfserie bietet eine automatisierte Prüflösung für Hochleistungsanwendungen wie FPGA-, CPU/GPU- und Netzwerkserver sowie für Anwendungen mit geringer I/O-Zahl: IC-Treiber, RF-Transceiver, drahtlose Verbindungen ...

Die anderen Produkte ansehen
Onto Innovation Inc.
visuelle Inspektionsmaschine
visuelle Inspektionsmaschine
Dragonfly® G3

... Durch die Kombination von 2D- und 3D-Technologien zur Erkennung von ertragsmindernden Fehlern und zur Messung von Merkmalen, die für die heutigen Front-End- und Verpackungstechnologien von entscheidender Bedeutung sind, wird das Dragonfly ...

Die anderen Produkte ansehen
Onto Innovation Inc.
Inspektionsmaschine für Wafer
Inspektionsmaschine für Wafer
NovusEdge®

... Optional kann die Konfiguration um eine hochempfindliche Kerbprüfung erweitert werden. Erkannte Defekte werden zur Laufzeit automatisch klassifiziert und in Kategorien eingeteilt, um die manuelle Überprüfung durch den ...

Die anderen Produkte ansehen
Onto Innovation Inc.
Inspektionsmaschine für Makrofehler
Inspektionsmaschine für Makrofehler
F30™

... , um die Grenzen zwischen Dunkelfeld-Mikroinspektion und traditioneller Makroinspektion zu verwischen, und bietet eine automatisierte Fehlerinspektion für Front-End- und Outbound-Qualitätsanwendungen (OQA). Produktübersicht Das ...

Die anderen Produkte ansehen
Onto Innovation Inc.
Oberflächen-Inspektionsmaschine
Oberflächen-Inspektionsmaschine
EB40™

... Produktübersicht Die Klasse-1-zertifizierten E40- und B40-Module (separat oder kombiniert in einem Modul erhältlich) können automatisch Defekte an der gesamten Kante, von Zone 1 bis 5, und auf der gesamten Rückseite erkennen. ...

Die anderen Produkte ansehen
Onto Innovation Inc.
3D-Inspektionsmaschine
3D-Inspektionsmaschine
NSX® 330

... Die NSX 330-Serie ermöglicht fortschrittliche Verpackungsprozesse, indem sie die Betriebskosten direkt verbessert, indem sie mehrere Anwendungen auf einer einzigen Plattform ermöglicht. Produktübersicht Mit einer Kombination aus Inspektion ...

Die anderen Produkte ansehen
Onto Innovation Inc.
Inspektionsmaschine für Wafer
Inspektionsmaschine für Wafer
AWX FSI

Breite des Inspektionsbereichs: 150, 200, 300 mm

... AWX-Prüfgerät kann 150-, 200- und 300-mm-Wafer handhaben und ermöglicht eine automatische Sortierung der Wafer auf der Grundlage der Prüfergebnisse. Spezifikationen - 150/200/300mm automatische Waferinspektion - ...

Die anderen Produkte ansehen
Onto Innovation Inc.
Stellen Sie Ihre Produkte aus

Erreichen Sie das ganze Jahr über neue Kunden an einem einzigen Ort

Aussteller werden