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... Das Teron™ SL670e XP2- Inspektionssystem wird zur Bewertung der Qualität eingehender EUV-Netzteile und zur regelmäßigen Requalifizierung von EUV-Netzteilen während der Produktion und nach der Netzteilreinigung eingesetzt. Es hilft Chipherstellern, ...
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... Das FlashScan 211-System verbindet seine hohe Empfindlichkeit mit einer unvergleichlichen Prüfgeschwindigkeit und einer automatischen Fehlerdisposition, wodurch die Zeit bis zum Erreichen von Ergebnissen für eine Vielzahl von Anwendungen ...
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... Das Kronos™ 1190XR Inspektionssystem für strukturierte Wafer mit hochauflösender Optik bietet eine erstklassige Empfindlichkeit für kritische Defekte bei der Prozessentwicklung und Produktionsüberwachung in Advanced Wafer Level Packaging ...
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