Optische Inspektionsmaschine Xceed MICRO
3Dfür Halbleiterfür die Elektronik

Optische Inspektionsmaschine - Xceed MICRO - PARMI Europe GmbH - 3D / für Halbleiter / für die Elektronik
Optische Inspektionsmaschine - Xceed MICRO - PARMI Europe GmbH - 3D / für Halbleiter / für die Elektronik
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Eigenschaften

Technologie
optisch, 3D
Anwendungsbereich
für Halbleiter
Bereich
für die Elektronik
Weitere Eigenschaften
automatisiert, Mess, Hochauflösung, Hochgeschwindigkeit

Beschreibung

Übersicht
  • Ultrapräzise 3D-AOI für das Halbleiter-Packaging
  • Extrem schnelle und hochauflösende Laser-Linien-Scan-Methode
  • Perfekte Inspektion auch bei stark spiegelnden Oberflächen
  • Inspektionsleistung unabhängig von Farbe, Material oder Oberflächenrauhigkeit
Inspektionsgegenstände
  • SiP (System in Package)
  • Die Attach
  • Underfill
  • Lötpaste und Bump
  • Cu-Clip auf Die
  • IGBT
  • Andere Halbleiter-Packaging-Artikel
Produktfamilie
  • Xceed MICRO (auf dieser Seite vorgestellt)
  • Verwandte Produktnamen auf der Seite: AXION, PRECION, ARTION
Caractéristiques / spécifications techniques
  • Typ: 3D AOI (Automatisierte Optische Inspektion) für Halbleiterverpackungen
  • Bildgebungsverfahren: Laserzeilenabtastung (extrem schnell, hochauflösend)
  • 3D-Messfunktion für ultrapräzise Inspektion
  • Entwickelt für die Inspektion hochglänzender (reflektierender) Oberflächen
  • Inspektion unempfindlich gegenüber Farb-, Material- und Oberflächenrauhigkeitsschwankungen
  • Typische Inspektionsziele: SiP, Die Attach, Underfill, Lötpaste & Bump, Cu-Clip auf Die, IGBT, etc.

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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.