Probecards

FEINMETALL ViProbe® II ist die nächste Generation der ViProbe®. ViProbe® II beinhaltet nicht nur sämtliche Vorteile der ViProbe®, sondern bietet darüber hinaus noch eine deutlich erhöhte Produktlebensdauer und zusätzliche Sicherheitsfeatures, ...

Prüfkarte mit Lamella Kontaktlelementen, insbesondere geeignet für HF Anwendungen mit einer hohen Designvielfalt. Gute Kontakte Bewährte und hervorragende Kontaktierqualität Temperaturbereich -55°C bis 200°C Wartung Beste ...

FeinProbe® wird unter anderem bei der Kontaktierung von gebumpten Wafern für WLCSP eingesetzt. Durch die Verwendung von hausintern entwickelten und gefertigten Federkontaktstiften können verschiedenste Kunden-Applikationen getestet ...

Anpassbar an eine enorme Bandbreite an Anwendungen ist die ViProbe® seit mehr als 25 Jahren eine bewährte Buckling Beam Technologie, welche vor allem für ihren die hervorragende Kontaktierqualität und die einzigartig einfache Reparierbarkeit ...

... Die branchenführende Leistung des HFTAP K32-Produkts reiht sich in FormFactors Serie von Hochfrequenztest-Tastkopfkarten ein, zu der auch die K10, K16 und K22 gehören, die zum Testen von 1,0 GHz, 1,6 GHz und 2,2 GHz DRAM-Bauteilen verwendet ...

... Die neuesten DRAM-Chips liefern extrem schnelle und reibungslose Grafik- und Cache-Speicherreaktionen in Spielekonsolen und PCs sowie in Serveranwendungen. Sie ermöglichen eine rasant steigende Speicherkapazität in immer kleineren Mobiltelefonen, ...

... SmartMatrix™ 3000XP bietet 300-mm-Full-Wafer-Kontakttests für mobile und handelsübliche DRAMs, Grafikspeicher (GDDR), Speicher mit hoher Bandbreite (HBM) und neue Speicherbausteine. Diese Plattform wurde speziell entwickelt, um schnelle ...