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Probecard VIPROBE® II

Probecard - VIPROBE® II - Feinmetall GmbH
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Beschreibung

Mit mehreren Optionen zur Verlängerung der Lebensdauer und verschiedenen Sicherheitsfunktionen für den Wafer bringt die ViProbe®II alle Vorteile der ViProbe® auf die nächste Stufe Min. Pitch des Prüflings - 50 µm Min. Durchmesser des Kontaktelementes - 1,6 mil Max. Kontaktfläche - 105 mm x 105 mm Temperatur - -55°C...+180°C Stromtragfähigkeit bei Raumtemperatur - 800 mA Kontaktkraft bei empfohlener Zustellung - 2,4 cN - 10,8 cN Kontaktierungsmaterialien - Kontaktierungsmaterial 1 - Gold Kontaktierungsmaterial 2 - Palladium Kontaktierungsmaterial 3 - Vielfältig Kontaktierungsmaterial 4 - Lötkugel Kontaktierungsmaterial 5 - Aluminium Kontaktierungsmaterial 6 - Kupfer

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ELECTRONICA 2026
ELECTRONICA 2026

10-13 Nov. 2026 Munich (Deutschland) Halle A4 - Stand 606

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