Probecard HFTAP Series

Die branchenführende Leistung des HFTAP K32-Produkts reiht sich in FormFactors Serie von Hochfrequenztest-Tastkopfkarten ein, zu der auch die K10, K16 und K22 gehören, die zum Testen von 1,0 GHz, 1,6 GHz und 2,2 GHz DRAM-Bauteilen verwendet werden. Die fortschrittliche PCB-Technologie, die exklusiv bei FormFactor erhältlich ist, ermöglicht die schnellste Kommunikation zwischen dem zu testenden Bauteil (Device Under Test, DUT) und der automatischen Testausrüstung (Automated Test Equipment, ATE). Durch den Einsatz der Matrix-Architektur von FormFactor können die HFTAP K32-Prüfkarten mit Geschwindigkeiten testen, die kein anderes Vollwafer-Kontaktiergerät erreichen kann. Die erweiterten Möglichkeiten von FormFactors HFTAP K32-Testkartenarchitektur ermöglichen DRAM-Kunden Geschwindigkeitstests auf Waferebene mit bis zu 3,2 GHz/6,4 Gbit/s für die nächste Generation von KGD-Speichern (Known Good Die). Die jüngste branchenweite Einführung heterogener integrierter Systeme, die durch die fortschrittliche 2,5D- und 3D-Packaging-Technologie ermöglicht wird, treibt die Nachfrage nach KGD voran. Der Vorteil der KGD-Prüfung besteht darin, dass das endgültige gestapelte und montierte Paket nicht wegen eines fehlerhaften Chips verschrottet wird. Diese fortschrittliche MEMS-Prüfkartenarchitektur wird verwendet, um die elektrische Leistung und den Ertrag nicht nur für die einzelnen Chips, sondern auch für die im HBM-Stapel verwendeten Bauelemente, einschließlich des Fine-Pitch-Interposers, zu überprüfen, um die Leistung des gesamten Gehäuses sicherzustellen. Die HFTAP K32 Probe Card-Lösung ermöglicht es Kunden, in jeder Phase des heterogenen Integrationsprozesses für fortschrittliche Gehäuse mehr Erkenntnisse zu gewinnen, wenn die traditionelle Methode zur Optimierung der Ausbeute auf einem monolithischen Silizium-Die nicht mehr ausreicht. HFTAP-Sonde-Card-Lösungen sind je nach Geräteanforderungen mit niedrigeren Geschwindigkeiten erhältlich.