Probecard PH Series

Die neuesten DRAM-Chips liefern extrem schnelle und reibungslose Grafik- und Cache-Speicherreaktionen in Spielekonsolen und PCs sowie in Serveranwendungen. Sie ermöglichen eine rasant steigende Speicherkapazität in immer kleineren Mobiltelefonen, IOT und anderen Unterhaltungselektronikgeräten, da die Halbleiter in kompakte Pakete mit Multi-Tasking-Chips gestapelt werden. Das Testen dieser neuen, hochleistungsfähigen DRAM-Bausteine mit hoher Dichte wird mit den Wafer-Probe-Karten der Matrix- und PH-Serie von FormFactor optimiert, da sie die Effizienz verbessern und die Gesamtkosten des DRAM-Tests senken. Da jedes einzelne Bit getestet werden muss, um eine optimale Leistung zu gewährleisten, sind massiv parallele Tests auf Waferebene für eine ertragreiche Volumenproduktion bei geringeren Gesamtkosten unerlässlich. Die skalierbare Architektur der DRAM-Testlösungen von FormFactor passt sich problemlos an die extrem hohe Pinzahl, die Wafergrößen und die Architektur der DRAM-Chips an und ermöglicht eine optimale Nutzung von Energie und Präzisionskontakten mit geringer Kraft.