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Komaktes optisches Profilometer für Mikrostrukturen und Rauheit TopMap Micro.View® ist das Kompaktsystem der TopMap Familie von optischen Profilometern und ermöglicht die wiederholgenaue und hochauflösende Charakterisierung ...
KOMBINIERTE OPTISCHE 3D-MESSUNG VON OBERFLÄCHENBESCHAFFENHEIT, FORMPARAMETERN & RAUHEIT Für alle Belange der Oberflächencharakterisierung anhand von Parametern wie Ebenheit, Stufenhöhen, Parallelität plus Rauheit bietet das TopMap Pro.Surf+ ...
... kombiniert das optische 3D-Profilometer Nexview™ NX2 eine herausragende Präzision, fortschrittliche Algorithmen, Flexibilität beim Anwendungsbereich sowie Automatisierung in einem einzigen Paket, das das modernste Profilometer ...
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Die optischen 3D-Profilometer ZeGage™ Pro und ZeGage™ Pro HR erlauben die berührungslose Messung und Charakterisierung von Merkmalen vieler Arten von Oberflächen im Mikro- und Nanometerbereich und stellen so die Qualitätskontrolle ...
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Neuer integrierbarer konfokaler Flächensensor Das S mart 2 ist das einzige autonome flächenkonfokale Profilometer auf dem Markt und ein Muss, wenn hohe Ansprüche an laterale Auflösung, Genauigkeit und Wiederholbarkeit ...
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