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Interferometrische Profilometer
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Komaktes optisches Profilometer für Mikrostrukturen und Rauheit TopMap Micro.View® ist das Kompaktsystem der TopMap Familie von optischen Profilometern und ermöglicht die wiederholgenaue und hochauflösende Charakterisierung ...
KOMBINIERTE OPTISCHE 3D-MESSUNG VON OBERFLÄCHENBESCHAFFENHEIT, FORMPARAMETERN & RAUHEIT Für alle Belange der Oberflächencharakterisierung anhand von Parametern wie Ebenheit, Stufenhöhen, Parallelität plus Rauheit bietet das TopMap Pro.Surf+ ...
... kombiniert das optische 3D-Profilometer Nexview™ NX2 eine herausragende Präzision, fortschrittliche Algorithmen, Flexibilität beim Anwendungsbereich sowie Automatisierung in einem einzigen Paket, das das modernste Profilometer ...
Zygo
Die optischen 3D-Profilometer ZeGage™ Pro und ZeGage™ Pro HR erlauben die berührungslose Messung und Charakterisierung von Merkmalen vieler Arten von Oberflächen im Mikro- und Nanometerbereich und stellen so die Qualitätskontrolle ...
Zygo
Das optische 3D-Oberflächen-Profilometer NewView™ 9000 bietet leistungsstarke Vielseitigkeit beim berührungslosen optischen Oberflächen-Profiling. Mit diesem System können eine Vielzahl von Oberflächentypen einfach und ...
Zygo
... seiner Hochgeschwindigkeitskamera und dem optimierten optischen und mechanischen Design ist der S onix unser schnellstes interferometrisches System.
Neuer integrierbarer konfokaler Flächensensor Das S mart 2 ist das einzige autonome flächenkonfokale Profilometer auf dem Markt und ein Muss, wenn hohe Ansprüche an laterale Auflösung, Genauigkeit und Wiederholbarkeit ...
... Messbereich eines CMM. Unser einzigartiger Ansatz nutzt die Atomkraftsondentechnologie im Taster und HeNe-Laser-basierte interferometrische XYZ-Achsenpositionierung. Kombiniert man diese Technologie mit einer soliden ...
... außergewöhnlichen Wert mit so unterschiedlichen Anwendungen wie Ebenheit, Rauheit und Welligkeit, Stufenhöhen und mehr Der IMOS Profiler ist mit einem Zoom-Kopf ausgestattet, der mit einer auf das System zugeschnittenen ...
... Der Tropel® FlatMaster® MSP (Multi-Surface Profiler) ist ein frequenzgesteuertes Interferometer, das schnelle und genaue Messverfahren für Halbleiterwafer mit einem Durchmesser von bis zu 300 mm ermöglicht. In Sekundenschnelle werden ...
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