Oberflächenprofil-Messmaschine / 3D S lynx 2
KonfokalinterferometrischOberflächenrauheit

Oberflächenprofil-Messmaschine / 3D - S lynx 2 - Sensofar Metrology - Konfokal / interferometrisch / Oberflächenrauheit
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Oberflächenprofil-Messmaschine / 3D - S lynx 2 - Sensofar Metrology - Konfokal / interferometrisch / Oberflächenrauheit - Bild - 2
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Eigenschaften

Technologie
3D, Konfokal, interferometrisch
Funktion
Oberflächenrauheit, Formmessung, Geometrie
Verwendung
für Halbleiter
Merkmal
Industrie, für die Automobilindustrie
Konfigurierung
kompakt
Weitere Eigenschaften
kontaktlos

Beschreibung

Kompakt. Flexibel. Leistungsstark. Das S lynx ist ein neues berührungsloses 3D-Oberflächenprofilometer zum Einsatz in Industrie und Forschung. Es wurde als kompaktes und vielseitiges System konzipiert. Das S lynx ist in der Lage, unterschiedliche Texturen, Strukturen, Rauhigkeiten und Welligkeiten auf verschiedenen Oberflächenskalen zu messen. Aufgrund seiner Vielseitigkeit eignet sich das S lynx für eine breite Palette von High-End-Oberflächenanwendungen. Die proprietäre 3-in-1-Messtechnik von Sensofar garantiert optimale Leistung, ergänzt durch die unglaublich intuitive Handhabung unter Einsatz der SensoScan-Software. Anwendungsbereiche - Automobilindustrie - Unterhaltungselektronik - Energiewirtschaft - LCD - Werkstoffkunde - Mikroelektronik - Mikrofertigung - Mikropaläontologie - Optik - Werkzeugtechnik - Halbleitertechnik - Uhrenbau Konfokal Konfokal-Profilometer erlauben die Vermessung unterschiedlichster Oberflächen, von glatt bis sehr rau. Die Konfokal-Technik liefert dabei die höchstmögliche von optischen Profilometern erreichbare laterale Auflösung. Die Reduzierung der räumlichen Abtastung auf 0,01 μm erweist sich als ideal für die Vermessung kritischer Dimensionen. Objektive mit hoher numerischer Apertur (0,95) und starker Vergrößerung (150X) ermöglichen die Vermessung glatter Oberflächen mit steilen Flanken von über 70º (bis 86º bei rauen Oberflächen). Die proprietären Konfokal-Algorithmen liefern eine einzigartige vertikale Wiederholbarkeit im nm-Bereich. icon_Interferometry_rgb_80x80

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Kataloge

S Lynx 2
S Lynx 2
16 Seiten

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ELECTRONICA 2026
ELECTRONICA 2026

10-13 Nov. 2026 Munich (Deutschland) Halle C1 - Stand 235

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