3D-Profilometer Micro.View

optischRauheitOberflächenrauheit

Übersicht
Kompaktes optisches 3D‑Profilometer (Plattform Micro.View) zur berührungslosen Messung von Rauheit und Oberflächentopografie. Entwickelt als Einstiegsgerät als Alternative zu taktilen Systemen und geeignet für matte bis stark reflektierende Bauteile.

Highlights

• ISO‑konforme Rauheitsauswertung: R‑Parameter (Profil) und S‑Parameter (Fläche)
• Kompaktes Tischgerät für Labor und Qualitätssicherung
• Option: motorisierter XY‑Tisch (75 mm Verfahrweg in der Advanced‑Version)
• Upgrade‑ und Trade‑In‑Möglichkeiten

Hauptvorteile

• Vollständige 3D‑Flächenmessung (Sa, Sq, Sz etc.) zusätzlich zu 2D‑Profilparametern (Ra, Rz…)
• Berührungslose optische Messung vermeidet Oberflächenschäden und erfasst komplette Topografien
• Integrierte Scan‑Technologien (Korrelogramm‑Auswertung, SST/CST) für robuste Messungen an reflektierenden, dunklen, kontrastarmer oder transparenten Materialien
• Sub‑Nanometer‑Vertikalauflösung und geringes Messrauschen

Anwendungen / Typische Einsatzfälle

• Ausstieg bzw. Upgrade von taktilen Messgeräten zu optischen Profilometern für umfassendere Oberflächenanalysen
• Qualitätssicherungslabore, die Konformität mit Flächenstandards (ISO 25178) benötigen
• Messung empfindlicher oder weicher Oberflächen ohne Beschädigung
• Früherkennung funktionaler Oberflächenprobleme durch areale Messdaten
• Schnellere Flächenmessungen für Produktion und Forschung & Entwicklung

Produktkonfigurationen & Merkmale

• Lieferbar in vorkonfigurierten Roughness Tester Varianten auf Basis der Micro.View Plattform zur Optimierung von Einstiegspreis vs. Leistung
• Sensorhead mit sub‑nm Vertikalauflösung und 5‑Positionen Objektivrevolver
• Kompakter Grundständer mit integrierter Vibrationsdämpfung
• Standard‑10× Objektiv inklusive; weitere Objektive optional
• Software zur Rauheitsauswertung gemäß Industriestandards (ISO 25178, ISO 4287, ISO 4288, ISO 21920, ASME B46.1)

Optionen — Basic vs Advanced

• Basic‑Version: Kostenbewusstes Profilometer für Standardbauteile und einfache Rauheitsprüfungen. Integrierte manuelle Tip/Tilt‑Bühne zur Probenausrichtung.
• Advanced‑Version: Empfohlen für mittelgroße Proben und Automatisierungsanforderungen. Enthält motorisierten XY‑Tisch mit 75 mm Verfahrweg (x und y) und manuelle Tip/Tilt. Ermöglicht reproduzierbare Ausrichtung und True Stitching zur Flächenerweiterung.

Spezifikationen
Topografie‑Leistung — Vertikaler Bereich (Positionierung & Messung): 100 mm
Messrauschen: < 0,6 nm
Wiederholgenauigkeit: < 0,2 nm
Messung — Probenreflektivität: 0,05 bis 100 %
Messfeld (mit 10× Objektiv): 0,79 mm × 0,58 mm
Max. Messfeld mit True Stitching (10×): 171 mm²
Messpunktabstand (10×): 0,59 µm
Datenpunkte: 1.352.000 (effektive Pixel)
Probenpositionierung — Probentischgröße: 140 mm × 140 mm
XY‑Tisch: Basic: keine; Advanced: 75 mm motorisierter Verfahrweg (x und y)
Kipp/Neige‑Tisch: manuell
Software — Auswerteparameter gemäß Standards: ISO 25178, ISO 4287, ISO 13565, ISO 21920, ASME B46.1
Automatisierung: Mess‑ und Auswertungsrezepte; True Stitching (mit motorisiertem XY‑Tisch)

Downloads & zusätzliche Ressourcen
Datasheet und Whitepaper sind auf der Produktseite verfügbar (Dateititel auf der Website referenziert).