Optisches Profilometer TopMap Micro.View

3Dinterferometrischmit Weißlichtinterferometrie

Kompaktes optisches 3D-Profilometer für Rauheit & Strukturdetails
TopMap Micro.View® ist das kompakte Profilometer der TopMap Weißlichtinterferometer und besticht durch schnelle, wiederholgenaue und hochauflösende Oberflächencharakterisierung. Ob Mikrostrukturen, Textur, Beschaffenheit oder flächenhafte Rauheitsparameter (Sa, Sz, ...) - scannen Sie Ihre Oberflächen effizient mit sub-nm-Auflösung!

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Als schlanke Konfiguration ist der Roughness Tester die Version für den Einstieg in die optische Oberflächenmessung und vereint herausragende Messgenauigkeit mit einem attraktivstem Preis. Fragen Sie uns an solange die Aktion läuft!

Dank integrierter CST Continuous Scanning Technology bietet der 100 mm lange Verfahrweg in Z-Achse auch komplette 100 mm Messbereich bei einer vertikalen Auflösung im Bereich von Nanometern. Dieses optische Profilometer zeichnet sich durch Kompaktheit dank integrierter Elektronik aus und besticht durch Bedienerfreundlichkeit - zum Beispiel per Focus Finder für schnelles und effizientes Messen in Produktionsumgebung und Prüflabor.

+ Kompaktes 3D Profilometer für sub-nm aufgelöste Rauheit, Textur und Mikrostrukturen
+ Innovativer Focus Finder für verlässlichere, schnellere Messvorgänge Kompaktsystem für Oberflächendetails
+ 100 mm großer vertikaler Messbereich mit CST Continuous Scanning Technology
+ Exzellente laterale Auflösung
+ NEU: Erweiterte Objektivoptionen 0,6X .. 111X jetzt verfügbar am manuellen 5-Port Revolver
+ Positioniereinheiten XY 20/ 75/ 100 mm manuell und automatisch
+ Operator Interface für vordefinierte Messrezepte als schnelle 1-Klick-Lösungen


Kontaktieren Sie uns für eine Demonstration, Machbarkeit und weitere Informationen.