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{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Vergrößerung: 160 unit - 200.000 unit
Räumliche Auflösung: 0 µm - 10 µm
... Ein bewährtes Großkammer-SEM für schnelle Materialabbildung und -analyse Das Thermo Scientific Phenom XL G3 Desktop SEM schafft die Voraussetzungen für eine schnellere und effizientere Qualitätskontrolle und Fehleranalyse. Sein größerer ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Vergrößerung: 160 unit - 350.000 unit
Räumliche Auflösung: 8, 6 nm
... fortschrittlichste Modell, das alle Funktionen des Phenom Pro G6 Desktop SEM mit integriertem EDS für umfassende Röntgen-Elementaranalysen kombiniert. Merkmale Das Phenom ProX G6 Desktop SEM lässt sich nahtlos mit einem ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Vergrößerung: 160 unit - 200.000 unit
Räumliche Auflösung: 0 nm - 10 nm
Gewicht: 75 kg
... Scientific Phenom ParticleX Battery Desktop SEM bietet hervorragende Geschwindigkeit und Präzision. Es liefert einen blitzschnellen Durchsatz, der bis zu 10-mal schneller ist als bei herkömmlichen Rasterelektronenmikroskopen, ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Die Systeme der EVO-Produktfamilie kombinieren leistungsstarke Rasterelektronenmikroskopie mit einem intuitiven Bedienkonzept, das für erfahrene und neue Anwender gleichermaßen gut geeignet ist. EVO kann dank seiner umfangreichen Optionen präzise auf ...
Vergrößerung: 5 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 15, 4, 3 nm
... Bei der SU3800/3900 VP-SEM-Familie liegt der Schwerpunkt auf der Produktivität. Diese Werkzeuge automatisieren sich wiederholende Aufgaben, sodass Sie in kurzer Zeit und mit geringem manuellem Aufwand reproduzierbare Ergebnisse erzielen können. Es stehen ...
Vergrößerung: 6 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 4, 15 nm
... die über die Leistung herkömmlicher Tisch-SEMs hinausgehen. Es ist das ideale System für alle, die nicht in ein klassisches SEM investieren, aber auch keine Kompromisse bei der Abbildungsleistung und Detektorvariabilität eingehen wollen. Produktmerkmale ...
Vergrößerung: 10 unit - 250.000 unit
... Das TM4000 III wurde als logische Erweiterung der optischen Stereomikroskopie entwickelt und ist ein Einstiegsgerät für die Rasterelektronenmikroskopie. Es ermöglicht Ihnen, Proben in kürzester Zeit mit guter Auflösung, Tiefenschärfe und Kontrast zwischen ...
... Steigende Anforderungen erfordern stetige Weiterentwicklung. Daher wurde basierend auf der erfolgreichen Baureihe der JEOL InTouchScope ™ REMs das JSM-IT710HR entwickelt. Die neue High-brightness-Feldemissions-Elektronenquelle ermöglicht hochaufgelöste ...
Jeol
Vergrößerung: 40 unit - 300.000 unit
Räumliche Auflösung: 4 nm - 8 nm
Gewicht: 120 kg
... Übersicht
- Das Tisch-Scanning-Elektronenmikroskop CEM3000A wurde für die Beobachtung von Mikrostruktur und die Analyse von Materialoberflächen entwickelt. Es ermöglicht hochkontrastreiche, groß Tiefenschärfe-Bildgebung mit Sekundär- (SE)
... Die 4. Generation des TESCAN VEGA Rasterelektronenmikroskops (REM) ist mit Wolfram-Filament-Elektronenquelle ausgestattet. Es kombiniert die REM-Bildgebung mit einer Live-Analyse der Zusammensetzung Ihrer Proben zeitgleich in einem einzigen ...
Tescan GmbH
Vergrößerung: 300.000 unit
Räumliche Auflösung: 4, 7, 3 nm
Gewicht: 480 kg
... CIQTEK SEM3200 ist ein Hochleistungs-Wolframfilament- Rasterelektronenmikroskop. Es verfügt sowohl im Hoch- als auch im Niedrigvakuummodus über eine hervorragende Bildqualität. Es verfügt außerdem über eine große Tiefenschärfe und eine ...
CIQTEK Co., Ltd.
Vergrößerung: 1.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 3 nm
... dokumentieren die Oberfläche eines Bauteils, um Unregelmäßigkeiten aufzudecken. Rasterelektronenmikroskop | SEM | Mikrofon | CNC-Werkzeugbau Ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) wird eingesetzt, um ein ...
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