ONTO Inspektionsmaschinen

... Die Firefly-Prüfserie bietet eine automatisierte Prüflösung für Hochleistungsanwendungen wie FPGA-, CPU/GPU- und Netzwerkserver sowie für Anwendungen mit geringer I/O-Zahl: IC-Treiber, RF-Transceiver, drahtlose Verbindungen und MEMS. Produktübersicht Die ...

... Durch die Kombination von 2D- und 3D-Technologien zur Erkennung von ertragsmindernden Fehlern und zur Messung von Merkmalen, die für die heutigen Front-End- und Verpackungstechnologien von entscheidender Bedeutung sind, wird das Dragonfly ...

... Das NovusEdge-System umfasst modulare Konfigurationen für eine schnelle, zuverlässige Prüfung der Kante, Kerbe und Rückseite des Wafers. Produktübersicht Das NovusEdge-System bietet eine hochempfindliche Inspektion der Kante und der ...

... Das F30-System wurde entwickelt, um die Grenzen zwischen Dunkelfeld-Mikroinspektion und traditioneller Makroinspektion zu verwischen, und bietet eine automatisierte Fehlerinspektion für Front-End- und Outbound-Qualitätsanwendungen (OQA). Produktübersicht Das ...

... Kombination von Kanten- und Rückseitenprüfung in einem Modul Produktübersicht Die Klasse-1-zertifizierten E40- und B40-Module (separat oder kombiniert in einem Modul erhältlich) können automatisch Defekte an der gesamten Kante, von Zone ...

... Die NSX 330-Serie ermöglicht fortschrittliche Verpackungsprozesse, indem sie die Betriebskosten direkt verbessert, indem sie mehrere Anwendungen auf einer einzigen Plattform ermöglicht. Produktübersicht Mit einer Kombination aus Inspektion ...

Breite des Inspektionsbereichs: 150, 200, 300 mm

... Das AWX FSI-System ist für Waferhersteller unerlässlich, um eine schnelle Partikelüberwachung kritischer Prozesswerkzeuge zu ermöglichen. Produktübersicht Unstrukturierte Wafer erfordern die Qualitätskontrolle, die das AWX FSI-System ...