Microtest Halbleiterprüfgeräte

... Automatische Prüfgeräte der neuen Generation, konfigurierbar für Si-, SiC- und GaN-Leistungsprodukte; High-Side- und Low-Side-Treiber-ICs, IGBT, Leistungs-MOSFETs, Leistungs-ICs. Konfigurationen: VIP Ultra STD 80V - 250A (48 Standorte) ...

... DMT-System für eine maßgeschneiderte Testlösung. Geringer Platzbedarf durch hohe Integration der Hardware, Tester mit extrem hoher Dichte. Mehr Ressourcen als ein Standardtester mit großer Grundfläche auf begrenztem Raum. Höhepunkte: - ...

... Testen Sie Wide-Bandgap-Bauteile wie SiC-MOSFETs, JFETs, Halbbrücken und Dioden gemäß den Qualitätsstandards der Automobilindustrie wie AEC-Q101 und AQG 324. DS6 Pulsar führt dynamische Schaltertests bei hohen Strömen von bis zu 7.500A ...

... Automatische Prüfgeräte, die für Si-, SiC- und GaN-Leistungsprodukte konfigurierbar sind; High-Side- und Low-Side-Treiber-ICs, IGBT, Leistungs-MOSFETs, Leistungs-ICs. Höhepunkte: - Hohe UPH für Wafersortierung und Streifentest - 48 x ...

... SEHR KOMPAKTE LÖSUNG FÜR DEN TEST VON MEMS-BAUTEILEN Flexibler, kostengünstiger ATE für hochparallele Märkte mit geringer Komplexität wie MEMS, Open/Shorts und Consumer-Logik. Höhepunkte: - Hohe Pinzahl V/I und DPS - Hohe Anzahl von ...

... HANDLER MIT HOHEM DURCHSATZ AUF KLEINSTEM RAUM Celsius EVO ist ein Charakterisierungs-Handler mit hochdynamischer Temperaturregelung, der die Temperatur des Prüflings während der Tests auf bis zu 150°C und bis zu -45°C bringen und halten ...

... Die M2 Dynamic Switch Tester von ipTEST bieten umfassende Testmöglichkeiten für Wide Bandgap Power Devices in jeder Phase der Fertigung. Diese fortschrittlichen Tester eignen sich für eine Reihe von Bauelementen, von GaN- und Si-basierten ...