Testen Sie Wide-Bandgap-Bauteile wie SiC-MOSFETs, JFETs, Halbbrücken und Dioden gemäß den Qualitätsstandards der Automobilindustrie wie AEC-Q101 und AQG 324. DS6 Pulsar führt dynamische Schaltertests bei hohen Strömen von bis zu 7.500A in den Fertigungsstufen KGD, Diskret und Modul durch. Die ultraschnellen Schaltgeschwindigkeiten des DS6 Pulsar stellen die Bedingungen für hohe Strombelastungen nach, denen die Bauteile im Automobilbetrieb ausgesetzt sind
Eine Hard-Dock-Handler-Schnittstelle gewährleistet schnelle Anstiegsgeschwindigkeiten, kritisch gedämpfte Wellenformen und eine Streu-Testinduktivität von typischerweise 20-40 nH. Die SocketSafeTM-Technologie schützt die Testzelle, falls ein Bauelement während der Prüfung katastrophal ausfallen sollte. Dies ist ideal für Leistungstechnologien mit breiter Bandlücke, so dass Sie qualitativ hochwertige, konforme Produkte liefern können
LEISTUNG - ÜBERSCHREITUNG DER TESTGRENZEN
Kurzschlusstests mit bis zu 7.500 A, die speziell für Automobilanwendungen entwickelt wurden und reale Stressereignisse wie Durchschüsse simulieren. Die Hard-Dock-Schnittstelle ermöglicht es, das zu prüfende Gerät näher an die Prüfstation anzuschließen und so die parasitäre Induktivität zu minimieren. 20-40 nH typische parasitäre Induktivität für extrem schnelle Schaltgeschwindigkeiten mit minimalem Überschwingen. Dadurch werden die Testrampenzeiten erheblich verbessert, ohne dass die Gefahr besteht, dass die Spannungsüberschwinger die Grenzen des Geräts überschreiten
FLEXIBILITÄT BEI DER PRÜFUNG
Investieren Sie kostengünstig und effizient in den DS6 Pulsar, um eine breite Palette von Tests auf einer einzigen Hardwareplattform durchzuführen. Durch einfaches Auswechseln der Schnittstellen-Tochterplatine können Sie das System problemlos auf andere Handler und Prüflingstypen umstellen
SICHERHEIT
Modernste SocketSafe™-Überstromschutztechnologie (OCP), die die gesamte Testzelle bei Fehlerereignissen innerhalb von 300 ns schützt
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