Leistungsprüfgerät DS5

KurzschlussautomatischHalbleiter

Die M2 Dynamic Switch Tester von ipTEST bieten umfassende Testmöglichkeiten für Wide Bandgap Power Devices in jeder Phase der Fertigung. Diese fortschrittlichen Tester eignen sich für eine Reihe von Bauelementen, von GaN- und Si-basierten Bauelementen mit geringerer Leistung bis hin zu SiC-Bauelementen und Modulen mit höchster Leistung, die in Automobil- und Stromübertragungsanwendungen eingesetzt werden. Sie gewährleisten schnelle Anstiegsgeschwindigkeiten und kritisch gedämpfte, hochwertige Testwellenformen in weniger als 200 ms. FLEXIBILITÄT BEI DER PRÜFUNG Testen Sie jeden Aspekt Ihres Geräts, im Labor und an der Fertigungslinie. Einfacher Wechsel zwischen verschiedenen Produktlinien und Fertigungsstufen LEISTUNG Leistungsstarke dynamische Schalterprüfung für jede Anwendung bis zu 2000 A. SICHERHEIT SocketSafe™, modernste Überstromschutztechnologie (OCP), schützt die gesamte Testzelle bei Fehlerereignissen innerhalb von 300 ns DS5-400 Mittelstarke Lösung für GaN-Bauelemente mit hoher Schaltgeschwindigkeit. Geringe parasitäre Induktivität und dynamische Rdson-Testmöglichkeiten. DS5 QUASAR Umfassende Hochleistungstests für Si-, SiC- und GaN-Bauelemente. Diodenrückgewinnung, induktive Last mit Einzel- und Doppelimpulsklemme und Kurzschlusstests - alles auf einer Platine.