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Microtest automatische Prüfgeräte
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... Automatische Prüfgeräte der neuen Generation, konfigurierbar für Si-, SiC- und GaN-Leistungsprodukte; High-Side- und Low-Side-Treiber-ICs, IGBT, Leistungs-MOSFETs, Leistungs-ICs. Konfigurationen: VIP ...
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... als ein Standardtester mit großer Grundfläche auf begrenztem Raum. Höhepunkte: - Geringste Grundfläche auf dem Markt - Automatischer Code-Generator (Kronos) - Drastische Verkürzung der Markteinführungszeit - Validierung ...
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... Stressereignisse wie Durchschüsse simulieren. Die Hard-Dock-Schnittstelle ermöglicht es, das zu prüfende Gerät näher an die Prüfstation anzuschließen und so die parasitäre Induktivität zu minimieren. 20-40 nH typische ...
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... Automatische Prüfgeräte, die für Si-, SiC- und GaN-Leistungsprodukte konfigurierbar sind; High-Side- und Low-Side-Treiber-ICs, IGBT, Leistungs-MOSFETs, Leistungs-ICs. Höhepunkte: - Hohe UPH für Wafersortierung ...
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... SEHR KOMPAKTE LÖSUNG FÜR DEN TEST VON MEMS-BAUTEILEN Flexibler, kostengünstiger ATE für hochparallele Märkte mit geringer Komplexität wie MEMS, Open/Shorts und Consumer-Logik. Höhepunkte: - Hohe Pinzahl V/I und DPS - Hohe Anzahl von ...
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... Höhepunkte: - Unglaublich schnell und trotzdem klein in der Stellfläche - Innovative Heiztechnologie für höhere Temperaturen - Automatische Sichtprüfung und Positionskorrektur - Hochdynamisches Temperaturkontrollsystem ...
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... Die M2 Dynamic Switch Tester von ipTEST bieten umfassende Testmöglichkeiten für Wide-Bandgap-Leistungsbauelemente in jeder Phase der Herstellung. Diese fortschrittlichen Tester sind für eine Reihe von Bauelementen ausgelegt, von GaN- ...
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