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- TZTEK Technology Co.,ltd
Messsystem / kritische Dimension IRISInfrarotmit Kamerafür Halbleiter
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Eigenschaften
- Physikalische Größe
- kritische Dimension
- Technologie
- mit Kamera, Infrarot
- Gemessenes Produkt
- für Halbleiter
Beschreibung
TZTEKs Infrarotsystem nimmt weltweit eine führende Position ein. Das System kombiniert eine Hochleistungs-Infrarotkamera mit einer designoptimierten Infrarot-Optik zur Erzeugung von Bildern mit hervorragender Auflösung und Kontrast.
hauptmerkmale
-Optimiertes optisches Infrarotsystem, Wellenlänge des Infrarotlichts bis zu 1500 nm
-Verfügbar für kundenspezifische Handhabungslösungen
kombination von sichtbarer und infraroter Beleuchtung im Auflicht- und Durchlichtmodus
-SECS/GEM
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Semiconductor
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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.