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- TZTEK Technology Co.,ltd
Messsystem / kritische Dimension IRISInfrarotmit Kamerafür Halbleiter
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Eigenschaften
- Physikalische Größe
- kritische Dimension
- Technologie
- mit Kamera, Infrarot
- Gemessenes Produkt
- für Halbleiter
Beschreibung
TZTEKs Infrarotsystem nimmt weltweit eine führende Position ein. Das System kombiniert eine Hochleistungs-Infrarotkamera mit einer designoptimierten Infrarot-Optik zur Erzeugung von Bildern mit hervorragender Auflösung und Kontrast.
hauptmerkmale
-Optimiertes optisches Infrarotsystem, Wellenlänge des Infrarotlichts bis zu 1500 nm
-Verfügbar für kundenspezifische Handhabungslösungen
kombination von sichtbarer und infraroter Beleuchtung im Auflicht- und Durchlichtmodus
-SECS/GEM
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Semiconductor
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