Probecard für Hochstrom

Mit dem Fortschritt der Automobiltechnologien wie IGBTs wächst der Bedarf an Hochstromtests, bei denen mehrere hundert Ampere durch Emitterelektroden geleitet werden, schnell. Traditionelle Prüfkarten stoßen unter diesen extremen Bedingungen oft an ihre Grenzen, selbst wenn die Lastverteilung über mehrere Pins optimiert ist. Die Hochstrom-Prüfkarte von Seiken überwindet diese Barrieren, indem sie CNT (Kohlenstoffnanoröhren)-Technologie an den Sondenspitzen integriert und die zulässige Stromkapazität erheblich erhöht. Darüber hinaus ist der Hauptkörper der Karte mit einer robusten Metallstruktur gebaut, die es ermöglicht, dass der Strom auch durch das Gehäuse fließt, wodurch die Belastung jedes einzelnen Pins minimiert wird. Dieses innovative Design ermöglicht weitaus stabilere und zuverlässigere Hochstrommessungen. - Hochstromfähigkeit: Die Sonden sind mit CNT-Technologie und einer Metallgehäusestruktur verstärkt, was die Strombeständigkeit erheblich verbessert. Im Vergleich zu herkömmlichen Drahtsonden bietet die kürzere Anschlusslänge eine geringere Induktivität, was zu einer höheren Leistung beiträgt. - Überlegene AC-Eigenschaften: Durch die Reduzierung der Prüfkartenhöhe auf weniger als die Hälfte der herkömmlichen 30 mm werden deutlich verbesserte AC-Leistung und eine verbesserte Messstabilität erreicht. - Vollständig anpassbare Lösungen: Jede Prüfkarte wird maßgeschneidert, um sich in Ihre Chip-Handler und Tester zu integrieren. Flexible Fertigung ist von einer einzelnen Einheit bis zur Großserienproduktion verfügbar. Anwendungsbeispiele: - Leistungsgeräte (IGBTs, SiC, GaN-Geräte) - Leistungshalbleiter (Hochspannungs-MOSFETs, Dioden) Verwandte Produkte: - Hochstromtechnologie: Die mit CNT (Kohlenstoffnanoröhren) beschichteten Sonden von Seiken für Hochstromanwendungen bieten niedrigen Widerstand, Hitzebeständigkeit und mehr Haltbarkeit und gewährleisten einen zuverlässigen Kontakt mit Aluminiumelektroden und anderen anspruchsvollen Testumgebungen. - HC-C IC-Sockel: Diese Sockel, die mit der firmeneigenen HC-C (High Current Cube)-Technologie gebaut sind, bieten eine herausragende Stromtragfähigkeit pro Anschluss und liefern eine solide elektrische Leistung. Ideal für Hochleistungsanwendungen wie Automobil- und Leistungsgeräte, gewährleisten sie stabile und effiziente Tests unter anspruchsvollen Bedingungen. - Sondenhalter (kundenspezifische Testvorrichtungen): Auch bekannt als Pin-Blöcke, sind Sondenhalter unerlässlich für präzises Sondieren in der Prüfung elektronischer Komponenten. Unsere Sondenhalter gewährleisten perfekte Ausrichtung und stabilen Kontakt, egal ob Sie Standardformate verwenden oder ein vollständig maßgeschneidertes Design benötigen. Technische Spezifikationen / Merkmale: - Integriert CNT (Kohlenstoffnanoröhren)-Technologie an den Sondenspitzen - Robuste Metallstruktur für den Stromfluss durch das Gehäuse - Hochstrombeständigkeit (mehrere hundert Ampere) - Geringere Induktivität durch kürzere Anschlusslänge - Reduzierte Prüfkartenhöhe für verbesserte AC-Leistung - Maßgeschneidert für die Integration mit Chip-Handlern und Testern - Flexible Fertigung von einer einzelnen Einheit bis zur Großserienproduktion