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Metrologie für Wafer QS2200™für Halbleiter
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Eigenschaften
- Typ
- für Wafer, für Halbleiter
Beschreibung
Zerstörungsfreie Wafer-Analyse
Produktübersicht
Das QS2200-System ist ein FTIR-Messgerät, das speziell für die zerstörungsfreie Waferanalyse entwickelt wurde. Es wird für die Charakterisierung und Messung von Halbleitermaterialien sowie für die Herstellung von Geräten eingesetzt.
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