Metrologie

Das 175GMS nano Verzahnungsmesszentrum wurde für die Inspektion aller Arten von Zahnrädern mit Durchmesser bis 175mm und Wellen mit Längen bis 380 mm ausgelegt. Es bietet alle notwendigen Eigenschaften sowie erweiterte Funktionen zur ...

... XRR- UND XRF-METROGIE-TOOL FÜR BLANKET-WAFER BIS ZU 200 mm Dicke, Dichte, Rauheit und Zusammensetzung von Schichten auf Blanket-Wafern Dieses vielseitige Röntgenmessgerät nutzt die Röntgenfluoreszenz (XRF) und die Röntgenreflexion (XRR) ...

... Kostengünstige Alternative zu vollautomatischen Wafer-Mess- und Prüfsystemen Das Produkt ermöglicht die Messung der Dicke und des Bogens aller Wafermaterialien, einschließlich Silizium, Galliumarsenid, Indium-Phosphid und Saphir oder ...

... Die OCD Solutions-Technologie optimiert die volle Leistungsfähigkeit und Konnektivität der Atlas- und IMPULSE-Systeme für die optische Messung kritischer Abmessungen (OCD) Produktübersicht Die OCD-Technologie von Onto Innovation bietet ...

... MESO Metrologie-Lösung Das MESO-Metrologiesystem ist eine Komplettlösung für viele Herausforderungen in der optischen Metrologie. Messungen in der Werkstatt gewährleisten Qualitätskontrollprüfungen und ...

EV Group bringt Hochgeschwindigkeits- und Präzisions-Metrologie für die 3D- / Heterogene Integration Das EVG40 NT2 bietet eine bahnbrechende messtechnische Leistung, um die Implementierung von Hybrid-Bonding auf Wafer- ...

... Verbesserung der Zuverlässigkeit und Nachhaltigkeit von Messungen zur Erfassung von Schlüsselindikatoren für Anlagenprozesse wie Position, Abmessungen und Beschleunigung. Schnellere und genauere Messungen werden durch unsere Messtechniklösungen ...