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Durchmesser-Messsystem NEXIV VMZ-NWL200
Positionkritische Dimensiondimensional

Durchmesser-Messsystem - NEXIV VMZ-NWL200 - Nikon Metrology - Position / kritische Dimension / dimensional
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Eigenschaften

Physikalische Größe
Durchmesser, Position, dimensional, kritische Dimension
Technologie
optisch, Vision, mit Kamera, Video
Funktionsmodus
automatisch
Gemessenes Produkt
für Wafer, für Halbleiter
Anwendung
für Industrieanwendungen, für Elektronik, für Produktionsanlagen, für Qualitätskontrolle
Weitere Eigenschaften
Hochpräzision, Hochgeschwindigkeit

Beschreibung

Überblick
Der VMZ-NWL200 ist ein automatisches Wafer-Messsystem, das das NEXIV-Videomesssystem mit dem NWL200-Wafer-Loader integriert. Mit moderner Bildverarbeitung führt es automatische, hochpräzise und schnelle Messungen von 6-Zoll- und 8-Zoll-Wafern in Trägern durch und liefert Messdaten für die Prozesskontrolle in der Halbleiterfertigung.

Zuverlässigkeit, Effizienz und Bedienbarkeit
  • Hohe Zuverlässigkeit: Vollautomatische, reproduzierbare Messungen reduzieren Bedienereinflüsse; hochwertige Optik erzeugt klare Bilder zur präzisen Kantenerkennung.
  • Hohe Effizienz: Inspektion mit einem Klick startbar; Messdurchsatz deutlich höher als bei herkömmlichen Messmikroskopen, was die Gesamtbetriebskosten senkt.
  • Gute Bedienbarkeit: GUI zeigt Wafer-Grafiken, Messchips können per Mausklick ausgewählt werden; spezielle Software vereinfacht Prozesssteuerungsabläufe und beschleunigt Rückmeldung an die Produktion.

Produkt-Highlights
  • Integrierte Messzelle mit NEXIV-Videomesssystem und NWL200-Wafer-Loader.
  • Vollautomatische und sichere Inspektion von 6"- und 8"-Wafern in Trägern.
  • Schnelle, hochpräzise Messungen für Prozesskontrolle und Anforderungen von Quality 4.0.

Kernfunktionen
  • Automatische Wafer-Handhabung und -Messung für 6" und 8" Wafer in Trägern, inklusive Transfer- und Positionierfunktionen.
  • Robuste Inspektionsprogramme mit Erstellung, Ausführung und Speicherung sowie vollständiger Rückverfolgbarkeit.
  • Unterstützt Ertragsverbesserung durch schnelle Bereitstellung qualitativ hochwertiger Messdaten für die Produktionssteuerung.
  • GUI-basierte Chip-Auswahl und Messkonfiguration zur Vereinfachung der Bedieneraufgaben.

Technische Daten
  • Gerät: Videomesssystem – NEXIV (VMZ-S3020 Type2 / Type3 / TypeTZ); Loader – NWL200
  • Wafer-Größe: 6 Zoll, 8 Zoll (SEMI/JEIDA Standard)
  • Kompatible Träger: 6" – PA182-60MB-06XX (Entegris); 8" – PA192-80M-06XX (Entegris)
  • Durchsatz (Transferreferenz): 6 Min. 45 Sek. für 25 Wafer (ohne Messzeit)
  • Mindest-L/S: 500 Linien/mm
  • Betriebstemperatur: 19–26 °C
  • Betriebsfeuchte: unter 70 % r.F.
  • Abmessungen (B x T): 4125 x 3040 mm
  • Versorgungsspannung: AC 100–120 V / 200–240 V
  • Netzfrequenz: 50 Hz / 60 Hz
  • Stromaufnahme: 7,5 A / 3,7 A
  • Vakuum: -80 kPa

Hinweise
  • *1 Vor dem Verkauf ist eine Bewertung der Wafer-Transferfähigkeit erforderlich.
  • *2 Die angegebene Transferzeit bezieht sich auf 25 Wafer und schließt die Messzeit aus.
* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.