ÜbersichtDie LEYBOLD OPTICS LTE series ist eine Long‑Throw‑Vakuumbeschichtungsanlage, entwickelt für nanometergenaue strukturierte Features und Lift‑Off‑Metallisierungen. Sie ist auf Halbleiterfertigung und F&E ausgelegt und ermöglicht nahezu senkrechte, richtungsgebundene Abscheidungen mit hoher Gleichmäßigkeit.
Hauptvorteile- Optimale Beschichtungsqualität: hochpräzise Beschichtungen auf strukturierten Wafern mit reduziertem Schattenwurf für anspruchsvolle 3D‑Strukturen.
- Service und Expertise: Zugriff auf Leybold Optics / Bühler Know‑how in Dünnschichttechnologie und weltweites Servicenetz.
- Flexibilität: Verdampfung von Metallen und Oxiden, Unterstützung mehrerer Wafergrößen und hohe Materialdurchsätze; vollständig anpassbar.
Besondere Merkmale- Fortschrittliche Long‑Throw‑Geometrie mit Quelle‑zu‑Dom Abstand von 1,3 m für verbesserte Substratabdeckung und Mustertreue.
- Anpassbarer Dom/Substrathandling für bis zu 6 × 150 mm (200 mm Option auf Anfrage).
- Kombination aus Elektronenstrahlquelle und Plasmaquelle für Plasma‑Impulse Atomic Deposition (PIAD) — bessere Haftung und Dickenkontrolle.
- Präzisionssystem für senkrechte Abscheidung, ausgelegt für nahezu senkrechte Winkel und höchste Gleichmäßigkeit.
Lift‑off / Metallisierungsprozess- Physikalische Gasphasenabscheidung (PVD)
- Beschichtung mit Fotolack
- Strukturierte Dünnschichtabscheidung
- Metall‑Lift‑off
Anwendungen- Halbleiterfertigung
- Mikro‑ und Optoelektronik
- Forschung & Entwicklung sowie Pilotfertigung mit nanometrischem Patterning
Services & SchulungenInstallation, Prozesssupport, Wartung und Anwenderschulungen sind verfügbar, um die LTE series in Produktions- und F&E‑Umgebungen zu integrieren.
Technische Daten / Spezifikationen- Produktfamilie: LEYBOLD OPTICS LTE series
- Technologie: Long‑Throw‑Verdampfung (PVD) mit Unterstützung von Elektronenstrahl + Plasma (PIAD)
- Quelle‑zu‑Dom Abstand: 1,3 m
- Substratkapazität: bis zu 6 × 150 mm (200 mm Option auf Anfrage)
- Unterstützte Wafergrößen: 1–6 Zoll Standard; 8 und 12 Zoll auf Anfrage
- Materialien: Metalle (Lift‑Off) und Oxide; geeignet für hohe Materialvolumina
- Abscheidegeometrie: nahezu senkrechte, richtungsgebundene Abscheidung zur Minimierung von Schatteneffekten
- Hauptanwendungen: Halbleiterfertigung, Mikro-/Optoelektronik, F&E