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Zeiss 3D-Mikroskope
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ZEISS Industrial Metrology
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Räumliche Auflösung: 50 nm
... . Profitieren Sie von modernen In situ- und 4D-Funktionen für das Studium der strukturellen Entwicklung über die Zeit hinweg und unter variablen Bedingungen. Erweitern Sie die Grenzen Ihrer Forschung mit 3D-Imaging ...
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