Jeol Mikroskope zur Beobachtung

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Elektronenmikroskop
Elektronenmikroskop
JEM-3300

... gemacht und ermöglicht mittlerweile die atomare Abbildung von Protein-Strukturen. Hierfür steht Wissenschaftlern seit 2017 das Mikroskop CRYO ARM™ 300 mit einer einzigartigen kalten Feldemission (CFEG) und einem sehr ...

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Elektronenmikroskop
Elektronenmikroskop
JEM-ARM300F2

... 53 pm erreicht. 2. Kalte Hochleistungs-Feldemissionsquelle mit großer Helligkeit und geringer Energiedispersion Das Mikroskop wird mit einer extrem hellen und stabilen kalten Feldemissionsquelle betrieben. Der lichtstarke ...

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Jeol
Rasterelektronenmikroskop
Rasterelektronenmikroskop
JSM-IT710HR

Steigende Anforderungen erfordern stetige Weiterentwicklung. Daher wurde basierend auf der erfolgreichen Baureihe der JEOL InTouchScope ™ REMs das JSM-IT710HR entwickelt. Die neue High-brightness-Feldemissions-Elektronenquelle ermöglicht ...

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Jeol
Rasterelektronenmikroskop
Rasterelektronenmikroskop
JSM-IT210

Steigende Anforderungen erfordern stetige Weiterentwicklung. Daher wurde basierend auf der erfolgreichen Baureihe der JEOL InTouchScope ™ REMs das JSM-IT710HR entwickelt. Die neue High-brightness-Feldemissions-Elektronenquelle ermöglicht ...

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Jeol
FIB/SEM-Mikroskop
FIB/SEM-Mikroskop
JIB-PS500i

Das von Grund auf neu designte Präparationssystem JIB-PS500i mit fokussiertem Gallium-Ionenstrahl (FIB) ermöglicht in noch nie dagewesener Einfachheit die Herstellung, höchstauflösende Abbildung und Analyse dünner TEM-Lamellen und Querschnitte. ...

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Elektronenmikroskop
Elektronenmikroskop
JEM-Z300FSC

... gemacht und ermöglicht mittlerweile die atomare Abbildung von Protein-Strukturen. Hierfür steht Wissenschaftlern seit 2017 das Mikroskop CRYO ARM™ 300 mit einer einzigartigen kalten Feldemission (CFEG) und einem sehr ...

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Transmissionselektronmikroskop
Transmissionselektronmikroskop
JEM-ARM200F

Räumliche Auflösung: 0,08 nm - 0,23 nm

Das JEOL "NEOARM" / JEM-ARM200F zeichnet sich durch eine kalte Feldemissionsquelle (Cold FEG) und einen Cs-Korrektor (ASCOR), der Aberrationen höherer Ordnungen kompensiert, aus. Diese Kombination aus Cold FEG und ASCOR ermöglicht gleichermaßen ...

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Transmissionselektronmikroskop
Transmissionselektronmikroskop
JEM-2100Plus

Räumliche Auflösung: 0,14 nm - 0,31 nm

... leistungsfähige Elektronenoptik mit einem hochentwickelten Steuerungssystem für eine verbesserte und intuitive Handhabung vereint. Das Mikroskop eignet sich für eine Vielzahl von Anwendungsgebieten in der Werkstoffkunde ...

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Elektronenmikroskop
Elektronenmikroskop
JEM-1400Flash

Vergrößerung: 10 unit - 1.500.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,14, 0,2 nm

Die JEOL JEM-1400 Serie von 120 kV Transmissionselektronenmikroskopen wird in vielen Bereichen wie bspw. der Biologie, Nanotechnologie und Polymerforschung eingesetzt. Um die Bedienerfreundlichkeit weiter zu verbessern und es zu ermöglichen, ...

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Rasterelektronenmikroskop
Rasterelektronenmikroskop
JSM-IT200

Vielseitiges, hochauflösendes Kompakt-REM gepaart mit der intuitiven Bedienung eines Table-Top-REMs. Das JEOL JSM-IT200 ist die neueste Entwicklung in der bewährten InTouchScope Rasterelektronenmikroskop-Baureihe. Das IT200 setzt die ...

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