EDRFA-Spektrometer Genius IF

für die MetallindustriekostengünstigTischgerät

Tisch-EDXRF-Spektrometer mit sekundären Targets Das EDXRF-Spektrometer Genius IF (Secondary Targets) von Xenemetrix bietet eine kostengünstige Lösung auf dem heutigen Markt der Elementanalyse. Das Analysegerät bietet eine zerstörungsfreie qualitative und quantitative Bestimmung von Kohlenstoff(6) bis Fermium(100) und liefert Nachweisgrenzen von sub-ppm bis zu hohen Gewichtsprozentkonzentrationen. Die Genius IF verfügt unter anderem über leistungsstarke Komponenten: Ein vollständig integriertes Computersystem Ein hochauflösender Sliciumdrift-Detektor Eine leistungsstarke Röntgenröhre mit variablen Spotgrößen, die für Proben unterschiedlicher Größe ausgelegt ist Acht sekundäre Ziele und acht anpassbare Röhrenfilter für die schnelle und genaue Bestimmung von Spuren- und Minorelementen Genius IF kann auch im klassischen Direktanregungsmodus betrieben werden. Silizium-Drift-Detektor(SDD): der Silizium-Drift-Detektor ermöglicht hohe Zählraten, eine verbesserte Auflösung bis hinunter zu 125 eV und eine schnelle Ansprechzeit, um die Ausfallzeit im Betrieb zu minimieren. SDD LE- Ultra - Ultradünnes Detektorfenster bietet überlegene Leistung für die Analyse niedriger Z-Elemente. Sekundäre Ziele: Die Genius IF verfügt über eine einzigartige patentierte Geometrie, die acht sekundäre Ziele mit acht anpassbaren Röhrenfiltern kombiniert, die im Direktanregungsmodus verwendet werden, um eine optimale Anregung aller Elemente zu ermöglichen, die in der EDXRF detektiert werden können. Die patentierte WAG (Weitwinkelgeometrie) Sekundärzieltechnik liefert die besten Ergebnisse bei der Analyse von Haupt-, Neben- und Spurenelementen.