Einbrenn-Prüfkammer Hatina WLBIfür Halbleiterfür Qualitätskontrolle
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Eigenschaften
- Testart
- Einbrenn
- Produktanwendung
- für Halbleiter
- Einsatzbereich
- für Qualitätskontrolle
- Länge
560 mm
(22,05 in)- Breite
560 mm
(22 in)- Tiefe
550 mm
(22 in)
Beschreibung
Lösung für Wafer Level Burn-In für Power MOS
Höhepunkte:
WLBI für Leistungstechnologien - Si, SiC, GaN
Kompatibel mit 6-, 8- und 12-Zoll-Wafern
Fähig zum Einbrennen des gesamten Wafers
Kosteneffektive Lösung für Zuverlässigkeits- und Lebensdauertests
Nutzt Standard-Waferprober-Technologie
Hauptmerkmale:
Parallelität: 160 Standorte bis 1600 Standorte
Spannung: bis zu 1,2KV pro Standort
Stromstärke: 2 mA pro Standort
Testaufbau:
Funktionsprüfung
HTGB
HTRB
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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.