Elektrisches Testsystem HATINA GP

für die Elektronikfür die Raumfahrtindustriefür Automobilanwendungen

DER GENERAL PURPOSE ATE für ASIC, PMIC und Smart Power Der HATINA GP ist für den Test komplexer Smart Power ICs und SoCs konzipiert. Empfohlen für hohe Parallelität. Höhepunkte: - Integrierter Multiplexer reduziert die Komplexität des Lastboards - >99% parallele Testeffizienz bietet klassenbeste COT - Modulare Instrumentierung passt sich den Markt- und Technologieanforderungen an - Geringerer Platzbedarf und weniger Stromverbrauch verbessern den ROI - Automatisierte Testprogrammentwicklung verbessert die Markteinführungszeit - Revolutionäre SW-Tools (Kronos) Hauptmerkmale: - DC-Quellen [IV-Quadranten erdbezogen] Niedrige Leistung: bis zu 160 Ressourcen pro Steckplatz [±110V, ±200mA] - DC [IV-Quadranten erdgebundene] Quellen Mittlere Leistung: bis zu 80 Ressourcen pro Steckplatz [±110V, ±4A] - DC [IV-Quadranten vollständig erdfrei] Quellen Hohe Leistung: bis zu 16 Ressourcen pro Steckplatz [±80V, ±10A] - Digitalkanäle: bis zu 256 Kanäle pro Steckplatz [-1,25V bis 6,75V Ausgangspegel, 50mA, aktive Last ±12mA] - Digitaler Kanal LF II°Gen @200MHz bis zu 1024 - DPS HC [Digitales Netzgerät - Hochstrom] 5,5V@10A bis zu 80 - DPS LC [Digitales Netzteil - niedriger Strom] 7V@1A bis zu 256 - Digitaler Kanal HF @800MHz bis zu 256 - Zeitmesseinheit & Differenzialmesser, AWG & Digitalisierer - OPTION: -HV Option - Zeitmesseinheit bis zu 64 - Floating Digital Driver bis zu 192 - LCR-Meter: bis zu 64 - PPMU: bis zu 64 - Pico-Meter: bis zu 64 [20pA als Genauigkeit] - Induktive und ohmsche Lasten: bis zu 64 x 2 Abmessungen - Höhe: 700 mm - Breite: 670 mm - Tiefe: 640 mm