Metallanalysator X-Strata920
für Qualitätskontrollefür ElektronikSchichtdicken

Metallanalysator
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Eigenschaften

Messobjekt
Metall
Anwendungsbereich
für Qualitätskontrolle, für Elektronik
Messgröße
Schichtdicken
Konfigurierung
Benchtop
Technologie
Röntgenfluoreszenz

Beschreibung

Mikrofokus RFA Geräte zur Schichtdickenmessung und Materialanalyse liefern Ergebnisse in Sekunden - für die schnelle Qualitätskontrolle und Validierungstests. Schichtdickenmessung und Materialanalyse, basierend auf Röntgenfluoreszenz (RFA), ist eine verbreitete und in der Industrie erprobte Analysetechnik. Sie bietet einfache Bedienung, schnelle und zerstörungsfreie Analyse mit geringer oder keiner Probenvorbereitung. Feste und flüssige Stoffe können über einen weiten Elementbereich von 13Al bis 92U in der Periodentabelle analysiert werden. Proportionalzählersystem oder hochauflösender SDD Elementbereich: Ti - U oder Al - U (SDD) Geschlitzte Messkammer XY-Tisch Optionen: Standard, Motorisiert, Mini-Well, breiter Tisch Maximale Probengröße: 270 x 500 x 150 mm Maximale Anzahl von Kollimatoren: 6 Filter: 1 Kleinster Kollimator: 0,01 x 0,25 mm (0,5 x10 mil) SmartLink Software

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Messen

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analytica 2024
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9-12 Apr. 2024 München (Deutschland) Halle A2 - Stand 422

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    36th Control 2024
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    23-26 Apr. 2024 Stuttgart (Deutschland)

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    * Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.