ProduktübersichtBBND‑WI ist eine Ultraschallsonde für Winkelstrahlprüfungen, ausgelegt für Schweißnahtprüfungen an Rohrleitungen, Druckbehältern, Tanks, Stahlkonstruktionen, Brücken, Schienenkomponenten und Industrieanlagen. Die Sonde koppelt Ultraschall in einem wählbaren Winkel ein, um Risse, Bindefehler, unvollständige Durchdringung, Schlackeneinschlüsse und andere Unstetigkeiten in Schweißnaht und Wärmeeinflusszone zu erkennen.
Hauptmerkmale- Winkelstrahl‑Ultraschallprüfung für industrielle Schweißnähte
- Vielfältige Frequenzen, Prüfwinkel und Elementgrößen
- Varianten für große Bauteile, kleine Teile und beengte Zugänge
- Scherwellen‑ und gebrochene Längswellen‑Prüflösungen
- Konventionelle Einzel‑, Doppel‑ und Phased‑Array‑Konfigurationen
- Integrierte, austauschbare und hochtemperaturgeeignete Keile
- Geeignet für manuelle Prüfung und Scanner‑Integration
Konfigurationsbereich (konventionell)Parameter: Verfügbare Optionen
Produkttyp: Ultraschall‑Schweißnahtprüfsonde
Prüfmethode: Kontaktprüfung mit Winkelstrahl
Frequenz: 1, 2, 2,25, 4, 5 MHz
Prüfwinkel: 35°, 38°, 45°, 60°, 70°, 77°, 80°, 90°
Elementanordnung: Einzel‑ oder Doppelfeld
Sondengehäuse: Groß, kompakt, klein
Keil: Integriert, austauschbar, Schnellwechsel, kundenspezifisch gekrümmt
Stecker: Lemo 1, Lemo 00, BNC, Microdot, MMD
Hochtemperaturkeil: Ausgewählte Konfigurationen für Kurzzeitkontakt bis 200 °C
Konfigurationsbereich (Phased‑Array)Parameter: Verfügbare Optionen
Frequenz: 1, 1,5, 2,25, 3,5, 5, 7,5 MHz
Elementanzahl: 16, 32, 64, 128
Pitch: 0,25–3 mm
Elevation: 6–25 mm
Keil: Flacher oder gekrümmter Winkelkeil und Verzögerungsstrecke
Scan‑Funktionen: Elektronische Winkelsteuerung, Fokussierung, lineares Scannen
AnwendungskonfigurationenPrüfaufgabe: Empfohlene Konfigurationsrichtung
Allgemeine Schweißnahtprüfung: Standardgehäuse mit mehreren Winkeloptionen
Dickwandige Rohre und Druckbehälter: Niedrige bis mittlere Frequenz mit größerem Element
Kleine Schweißnähte und eingeschränkter Zugang: Kompakte oder kleine Ausführung
Grobkörnige und austenitische Schweißnähte: Niedrigere Frequenz, gebrochene Längswelle oder Doppelfeld
Hochtemperaturschweißnähte: Hochtemperaturkeil
Mehrwinkel‑ und Flächenprüfung: Phased‑Array‑Konfiguration
Typische Anwendungen- Prüfung von Rohrumfangs‑ und Längsschweißnähten
- Prüfung von Druckbehältern, Tanks und Kesseln
- Prüfung von Brücken‑ und Stahlkonstruktionsschweißnähten
- Prüfung von Schienen, Rädern, Achsen und Transportkomponenten
- Erkennung schräger Fehlstellen in Gussteilen, Schmiedeteilen und komplexen Strukturen
- Prüfung austenitischer Stähle und grobkörniger Werkstoffe
- Luftfahrtstrukturen und kritische tragende Bauteile
AuswahlparameterDie Auswahl richtet sich nach Werkstoff, Schweißnahtart, Wanddicke, Fugenform, Prüfstandard, erforderlichem Strahlwinkel, Frequenz, Scanabdeckung, Keilkrümmung, Betriebstemperatur und Geräteschnittstelle.
Kompatible Geräte- Konventionelles Ultraschallprüfgerät oder Phased‑Array‑System
- Sondenkabel
- Passender Keil
- Ultraschall‑Koppelmittel
- Schweißnaht‑Kalibrierblock
- Manueller oder automatischer Scanner
Betriebsanforderungen- Prüfwinkel und Frequenz an Schweißgeometrie, Werkstoff und geltenden Prüfstandard anpassen
- Kontaktfläche des Keils an Bauteilkrümmung anpassen und stabile Kopplung sicherstellen
- Schallweg, Winkel, Empfindlichkeit und Verstärkung vor der Prüfung kalibrieren
- Bei Hochtemperaturkonfigurationen vorgeschriebene Kontaktzeit und Kühlung einhalten
Technische Daten- Modellserie: BBND‑WI
- Frequenzen (konventionell): 1, 2, 2,25, 4, 5 MHz
- Phased‑Array‑Frequenzen: 1, 1,5, 2,25, 3,5, 5, 7,5 MHz
- Prüfwinkel (konv.): 35°–90° (35°, 38°, 45°, 60°, 70°, 77°, 80°, 90°)
- Elementanzahl (konv.): Einzel‑ oder Doppelfeld
- Phased‑Array‑Elementanzahlen: 16, 32, 64, 128
- Pitch (PA): 0,25–3 mm
- Elementhöhe (PA): 6–25 mm
- Sondengehäuse: Groß, kompakt, klein
- Keiloptionen: Integriert, austauschbar, Schnellwechsel, kundenspezifisch gekrümmt; flache oder gekrümmte Winkelkeile; Verzögerungsstrecken
- Steckertypen: Lemo 1, Lemo 00, BNC, Microdot, MMD
- Hochtemperaturanwendung: Kurzzeitkontakt bis 200 °C (ausgewählte Konfigurationen)
- Scan‑Funktionen (PA): Elektronische Winkelsteuerung, Fokussierung, lineares Scannen