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Produktübersicht Das FTI‑1000 Wafer HV ist ein Wafer‑Level ATE‑System für hochabdeckende Tests von Leistungshalbleitern und Wide‑Bandgap‑Technologien. Die Wafer HV‑Variante bietet Hochspannungs‑DC‑ und AC‑Quellen und ist für Single‑Site‑Probe‑Anwendungen ...
Der UHV-341 ist ein tragbarer Tan-Delta-Tester (Verlustfaktor) zur Diagnose von feuchtigkeitsbedingter Verschlechterung und lokalen Defekten der Isolierung von Transformatoren und elektrischen Geräten. Er eignet sich für Fertigung, Installation, Abnahme ...
... System zur Prüfung der C-V-Kennlinie von Halbleiter-Leistungsbauelementen Kapazitäts-Spannungs-Messungen (C-V) werden häufig zur Messung von Halbleiterparametern verwendet, insbesondere bei MOS-CAP- und MOSFET-Strukturen. Die Kapazität der MOS-Struktur ...
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