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... kombinierte Temperatur-/Feuchtigkeitsbelastungen koppeln. Entwickelt für Labor- und Produktionsqualifikation kristalliner
Silizium-PV-Module.
Prüfnormen
- IEC61215-2: 2021 MQT 21 Potential Induced Degradation Test
- IEC
... Übersicht
Der CT1000-SiPh ist ein Prüfgerät für siliziumoptische Chips, ausgelegt für die industrielle Großserienfertigung. Das System vereint einen separaten Testbereich und einen Belade-/Entladebereich, um ein schnelles und präzises Koppeln ...
... Automatische Testlinie für monokristalline Silizium-Barren ...
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